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株式会社日立ハイテクサイエンス
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第1169位 25件
（
2012年： 0件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第1072位 26件
（2012年： 0件）
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株式会社日立ハイテクサイエンスの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5378830 | 集束イオンビーム装置、及びそれを用いた試料の加工方法 | 2013年12月25日 | |
| 特許 5373298 | ＥＵＶＬマスクの加工方法 | 2013年12月18日 | |
| 特許 5362236 | 試料加工・観察装置及び断面加工・観察方法 | 2013年12月11日 | |
| 特許 5340119 | 走査型プローブ顕微鏡における探針とサンプルの近接方法 | 2013年11月13日 | |
| 特許 5339851 | 変位計付圧電アクチュエータおよび圧電素子ならびにそれを用いた位置決め装置 | 2013年11月13日 | |
| 特許 5328264 | 元素マッピング装置及び元素マッピング画像表示方法 | 2013年10月30日 | |
| 特許 5323405 | ＴＥＭ試料作製方法、及びＴＥＭ試料 | 2013年10月23日 | |
| 特許 5307504 | Ｘ線分析装置及びＸ線分析方法 | 2013年10月 2日 | |
| 特許 5305650 | 走査型プローブ顕微鏡用変位検出機構およびこれを用いた走査型プローブ顕微鏡 | 2013年10月 2日 | |
| 特許 5307503 | Ｘ線分析装置及びＸ線分析方法 | 2013年10月 2日 | |
| 特許 5296413 | 複合荷電粒子ビーム装置を用いた断面画像取得方法および複合荷電粒子ビーム装置 | 2013年 9月25日 | |
| 特許 5295066 | 誘電率の測定方法及び走査型非線形誘電率顕微鏡 | 2013年 9月18日 | |
| 特許 5295047 | 走査型プローブ顕微鏡による誘電率の測定方法 | 2013年 9月18日 | |
| 特許 5283535 | 示差走査熱量計 | 2013年 9月 4日 | |
| 特許 5269521 | Ｘ線分析装置及びＸ線分析方法 | 2013年 8月21日 |
26 件中 1-15 件を表示
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5378830 5373298 5362236 5340119 5339851 5328264 5323405 5307504 5305650 5307503 5296413 5295066 5295047 5283535 5269521
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