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株式会社日立ハイテクサイエンス
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（
2024年：第927位 26件）
■ 2025年 特許取得件数ランキング 第1286位 15件
（2024年：第1169位 18件）
（ランキング更新日：2026年10月13日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクサイエンスの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7792275 | 半導体検出器及びその製造方法 | 2025年12月25日 | |
| 特許 7783947 | Ｘ線分析装置 | 2025年12月10日 | |
| 特許 7769508 | 液体クロマトグラフ | 2025年11月13日 | |
| 特許 7740928 | イオン交換クロマトグラフの制御方法およびイオン交換クロマトグラフ | 2025年 9月17日 | |
| 特許 7705943 | 荷電粒子ビーム装置 | 2025年 7月10日 | |
| 特許 7700249 | 荷電粒子ビーム処理システム | 2025年 6月30日 | |
| 特許 7692141 | 液体クロマトグラフデータ処理装置、および液体クロマトグラフ装置 | 2025年 6月13日 | |
| 特許 7633439 | 試料片移設装置 | 2025年 2月19日 | |
| 特許 7626616 | 分光蛍光光度計、分光蛍光測定方法及び画像撮像方法 | 2025年 2月 4日 | |
| 特許 7622238 | 荷電粒子ビーム装置 | 2025年 1月27日 | |
| 特許 7622248 | 荷電粒子ビーム装置、及び荷電粒子ビーム装置の制御方法 | 2025年 1月27日 | |
| 特許 7620678 | クロマトグラフ装置 | 2025年 1月23日 | |
| 特許 7611414 | 加工方法及び荷電粒子ビーム装置 | 2025年 1月 9日 | |
| 特許 7611415 | 制御方法、荷電粒子ビーム装置及びプログラム | 2025年 1月 9日 | |
| 特許 7608570 | オートサンプラの制御装置及びそれを含む自動測定システム | 2025年 1月 6日 |
15 件中 1-15 件を表示
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7792275 7783947 7769508 7740928 7705943 7700249 7692141 7633439 7626616 7622238 7622248 7620678 7611414 7611415 7608570
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