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株式会社日立ハイテクサイエンス
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第986位 28件
（
2013年：第1169位 25件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第1008位 28件
（2013年：第1072位 26件）
（ランキング更新日：2026年1月21日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクサイエンスの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5646836 | 試料加工方法及び装置 | 2014年12月24日 | |
| 特許 5642525 | 示差走査熱量計 | 2014年12月17日 | |
| 特許 5632131 | 走査型プローブ顕微鏡用のカンチレバーの加振方法ならびにその方法による走査型プローブ顕微鏡 | 2014年11月26日 | |
| 特許 5627472 | カンチレバーホルダ及びそれを備えた走査型プローブ顕微鏡 | 2014年11月19日 | |
| 特許 5612502 | ＩＣＰ分析装置及びその分析方法 | 2014年10月22日 | |
| 特許 5612493 | 複合荷電粒子ビーム装置 | 2014年10月22日 | |
| 特許 5603105 | 集束イオンビーム装置及び断面加工観察方法 | 2014年10月 8日 | |
| 特許 5595054 | 電子顕微鏡及び試料分析方法 | 2014年 9月24日 | |
| 特許 5592136 | チップ先端構造検査方法 | 2014年 9月17日 | |
| 特許 5572438 | 蛍光Ｘ線分析装置 | 2014年 8月13日 | |
| 特許 5565986 | 蛍光Ｘ線分析装置 | 2014年 8月 6日 | 共同出願 |
| 特許 5564303 | Ｘ線透過検査装置 | 2014年 7月30日 | |
| 特許 5564299 | 試料加工観察方法 | 2014年 7月30日 | |
| 特許 5553926 | 走査型プローブ顕微鏡における探針とサンプルの近接方法 | 2014年 7月23日 | |
| 特許 5553300 | 蛍光Ｘ線検査装置及び蛍光Ｘ線検査方法 | 2014年 7月16日 |
28 件中 1-15 件を表示
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5646836 5642525 5632131 5627472 5612502 5612493 5603105 5595054 5592136 5572438 5565986 5564303 5564299 5553926 5553300
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