ホーム > 特許ランキング > 株式会社日立ハイテクサイエンス > 2021年 > 出願公開一覧
※ ログインすれば出願人(株式会社日立ハイテクサイエンス)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2021年 出願公開件数ランキング 第820位 35件 (2020年:第957位 28件)
■ 2021年 特許取得件数ランキング 第743位 29件 (2020年:第843位 24件)
(ランキング更新日:2024年11月22日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2022年 2023年 2024年
公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2021-92572 | 走査型プローブ顕微鏡 | 2021年 6月17日 | |
特開 2021-81311 | X線検査装置及びX線検査方法 | 2021年 5月27日 | |
特開 2021-68529 | 荷電粒子ビーム装置、複合荷電粒子ビーム装置、及び荷電粒子ビーム装置の制御方法 | 2021年 4月30日 | |
特開 2021-68530 | 集束イオンビーム装置、及び集束イオンビーム装置の制御方法 | 2021年 4月30日 | |
特開 2021-63658 | 分析装置 | 2021年 4月22日 | |
特開 2021-63791 | 液体クロマトグラフ装置 | 2021年 4月22日 | |
特開 2021-60234 | オートサンプラの制御装置及びそれを含む自動測定システム | 2021年 4月15日 | |
特開 2021-60432 | 走査型プローブ顕微鏡及びそのプローブ接触検出方法 | 2021年 4月15日 | |
特開 2021-57331 | 荷電粒子ビーム装置 | 2021年 4月 8日 | |
特開 2021-57332 | 荷電粒子ビーム装置 | 2021年 4月 8日 | |
特開 2021-57341 | 集束イオンビーム装置 | 2021年 4月 8日 | |
特開 2021-49503 | 液体クロマトグラフ、分離カラム、および分離カラムの充填剤 | 2021年 4月 1日 | |
特開 2021-51844 | 液体金属イオン源及び集束イオンビーム装置 | 2021年 4月 1日 | |
特開 2021-51878 | 荷電粒子ビーム照射装置、及び制御方法 | 2021年 4月 1日 | |
特開 2021-51879 | 粒子ビーム照射装置 | 2021年 4月 1日 |
37 件中 16-30 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
2021-92572 2021-81311 2021-68529 2021-68530 2021-63658 2021-63791 2021-60234 2021-60432 2021-57331 2021-57332 2021-57341 2021-49503 2021-51844 2021-51878 2021-51879
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社日立ハイテクサイエンスの知財の動向チェックに便利です。
11月22日(金) -
11月22日(金) - 東京 千代田区
11月22日(金) - 東京 港区
11月22日(金) -
11月22日(金) - 大阪 大阪市
11月22日(金) -
11月22日(金) -
11月25日(月) -
11月25日(月) - 岐阜 各務原市
11月26日(火) -
11月26日(火) - 東京 港区
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月27日(水) - 東京 港区
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月28日(木) - 東京 港区
11月28日(木) - 島根 松江市
11月28日(木) - 京都 京都市
11月28日(木) -
11月28日(木) - 大阪 大阪市
11月28日(木) -
11月29日(金) - 東京 港区
11月29日(金) - 茨城 ひたちなか市
11月30日(土) -
12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月25日(月) -
大阪府大阪市西区靱本町1丁目10番4号 本町井出ビル2F 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
愛知県名古屋市中区栄3-2-3 名古屋日興證券ビル4階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
東京都港区北青山2丁目7番20号 第二猪瀬ビル3F 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング