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株式会社日立ハイテクサイエンス
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■ 2023年 出願公開件数ランキング 第1639位 14件
（
2022年：第2187位 10件）
■ 2023年 特許取得件数ランキング 第621位 41件
（2022年：第842位 28件）
（ランキング更新日：2025年8月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクサイエンスの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7236728 | 熱分析装置 | 2023年 3月10日 | |
| 特許 7235298 | クロマトグラフのデータ処理装置、データ処理方法、およびクロマトグラフ | 2023年 3月 8日 | |
| 特許 7228236 | 遠心分離カラム及び分析対象物質の分析方法 | 2023年 2月24日 | |
| 特許 7227604 | 三次元形状測定方法および三次元形状測定装置 | 2023年 2月22日 | |
| 特許 7221895 | 膜電極接合体の検査方法および検査装置 | 2023年 2月14日 | |
| 特許 7217913 | プラスチック標準物質の製造方法 | 2023年 2月 6日 | |
| 特許 7214262 | 荷電粒子ビーム装置、試料加工方法 | 2023年 1月30日 | |
| 特許 7212377 | 試料加工評価装置 | 2023年 1月25日 | |
| 特許 7211616 | 原子吸光光度計における極微量分析診断方法 | 2023年 1月24日 | |
| 特許 7204200 | 薄膜試料片作成方法および荷電粒子ビーム装置 | 2023年 1月16日 | |
| 特許 7202642 | 荷電粒子ビーム装置、及び制御方法 | 2023年 1月12日 | |
| 特許 7201987 | クロマトグラフ | 2023年 1月11日 | |
| 特許 7201481 | Ｘ線検査装置及びＸ線検査方法 | 2023年 1月10日 |
43 件中 31-43 件を表示
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7236728 7235298 7228236 7227604 7221895 7217913 7214262 7212377 7211616 7204200 7202642 7201987 7201481
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