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株式会社日立ハイテクサイエンス
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■ 2023年 出願公開件数ランキング 第1639位 14件
（
2022年：第2187位 10件）
■ 2023年 特許取得件数ランキング 第621位 41件
（2022年：第842位 28件）
（ランキング更新日：2025年8月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクサイエンスの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7308581 | 荷電粒子ビーム装置、複合荷電粒子ビーム装置、及び荷電粒子ビーム装置の制御方法 | 2023年 7月14日 | |
| 特許 7308582 | 集束イオンビーム装置、及び集束イオンビーム装置の制御方法 | 2023年 7月14日 | |
| 特許 7308710 | 集束イオンビーム装置 | 2023年 7月14日 | |
| 特許 7299260 | 膜電極接合体の検査方法および検査装置 | 2023年 6月27日 | |
| 特許 7291047 | 粒子ビーム照射装置 | 2023年 6月14日 | |
| 特許 7291048 | 荷電粒子ビーム装置 | 2023年 6月14日 | |
| 特許 7291049 | 荷電粒子ビーム装置 | 2023年 6月14日 | |
| 特許 7284457 | 量子効率分布の取得方法、量子効率分布の表示方法、量子効率分布の取得プログラム、量子効率分布の表示プログラム、分光蛍光光度計及び表示装置 | 2023年 5月31日 | |
| 特許 7281841 | 走査プローブ顕微鏡 | 2023年 5月26日 | |
| 特許 7266322 | 試料作製装置 | 2023年 4月28日 | |
| 特許 7246680 | クロマトグラフ及びクロマトグラフィの定量方法 | 2023年 3月28日 | |
| 特許 7246744 | 集束イオンビーム装置 | 2023年 3月28日 | |
| 特許 7246413 | サイズ分布計測装置、サイズ分布計測方法 | 2023年 3月27日 | |
| 特許 7244067 | マスク欠陥修正装置、及びマスク欠陥修正方法 | 2023年 3月22日 | |
| 特許 7240704 | 液体クロマトグラフ分析方法及び液体クロマトグラフ分析装置 | 2023年 3月16日 |
43 件中 16-30 件を表示
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7308581 7308582 7308710 7299260 7291047 7291048 7291049 7284457 7281841 7266322 7246680 7246744 7246413 7244067 7240704
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