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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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　■　2014年特許取得件数ランキング　　　第54位　625件（2013年：第51位　717件）

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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日
特開 2014-146523	荷電粒子線装置の評価装置、及び荷電粒子線装置	2014年 8月14日
特開 2014-146079	テンプレートマッチング条件設定装置、及び荷電粒子線装置	2014年 8月14日
特開 2014-145694	欠陥観察方法および欠陥観察装置	2014年 8月14日
特開 2014-145693	核酸分析装置	2014年 8月14日
特開 2014-145692	質量分析方法および装置	2014年 8月14日
特開 2014-142252	プローブ洗浄機構および自動分析装置	2014年 8月 7日
特開 2014-142216	自動分析システムおよび制御方法	2014年 8月 7日
特開 2014-142215	検査装置	2014年 8月 7日
特開 2014-143296	プラズマ熱処理装置	2014年 8月 7日
特開 2014-143096	荷電粒子線装置及び荷電粒子線装置における軌道修正方法	2014年 8月 7日
特開 2014-143075	荷電粒子線装置	2014年 8月 7日
特開 2014-143072	試料保持具、及び荷電粒子線装置	2014年 8月 7日
特開 2014-143035	荷電粒子線装置	2014年 8月 7日
特開 2014-143033	ステージ装置およびビーム照射装置	2014年 8月 7日
特開 2014-143031	荷電粒子線装置および試料観察方法	2014年 8月 7日

659 件中 211-225 件を表示

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2014-146523 2014-146079 2014-145694 2014-145693 2014-145692 2014-142252 2014-142216 2014-142215 2014-143296 2014-143096 2014-143075 2014-143072 2014-143035 2014-143033 2014-143031

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