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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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  2014年 出願公開件数ランキング    第59位 659件 変わらず2013年:第59位 716件)

  2014年 特許取得件数ランキング    第54位 625件 下降2013年:第51位 717件)

(ランキング更新日:2020年7月15日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年  2012年  2013年  2015年  2016年  2017年  2018年  2019年  2020年 

公報番号発明の名称公報発行日備考
特開 2014-225352 荷電粒子線装置、サンプルホルダ、荷電粒子線装置設計方法 2014年12月 4日
特開 2014-224831 欠陥検査方法及び欠陥検査装置 2014年12月 4日
特開 2014-225362 集束イオンビーム装置、集束イオンビーム装置を用いた試料加工方法、及び試料加工プログラム 2014年12月 4日
特開 2014-222165 信号パルス検出装置、質量分析装置、および信号パルス検出方法 2014年11月27日
特開 2014-219246 電解質濃度測定装置およびそれを用いた測定方法 2014年11月20日
特開 2014-220360 プラズマ処理方法 2014年11月20日
特開 2014-219228 自動分析装置 2014年11月20日
特開 2014-219422 自動分析装置 2014年11月20日
特開 2014-215263 自動分析装置 2014年11月17日
特開 2014-216182 電子銃、荷電粒子銃およびそれらを用いた荷電粒子線装置 2014年11月17日
特開 2014-216183 半導体検査装置、及び検査方法 2014年11月17日
特開 2014-215123 充填装置、方法、及び分析装置 2014年11月17日
特開 2014-215125 高圧力定流量ポンプ及び高圧力定流量送液方法 2014年11月17日
特開 2014-216207 荷電粒子線装置 2014年11月17日
特開 2014-216213 荷電粒子顕微鏡装置および荷電粒子顕微鏡装置の画像取得方法 2014年11月17日

659 件中 31-45 件を表示

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2014-225352 2014-224831 2014-225362 2014-222165 2014-219246 2014-220360 2014-219228 2014-219422 2014-215263 2014-216182 2014-216183 2014-215123 2014-215125 2014-216207 2014-216213

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