特許ランキング - 出願人詳細情報 -

株式会社日立ハイテクノロジーズ

※ ログインすれば出願人(株式会社日立ハイテクノロジーズ)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2014年出願公開件数ランキング　　　第59位　659件（2013年：第59位　716件）

　■　2014年特許取得件数ランキング　　　第54位　625件（2013年：第51位　717件）

（ランキング更新日：2025年2月21日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2012年 2013年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年

株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日
特開 2014-56167	パターニング装置、パターニング方法及び表示用パネル基板の製造方法	2014年 3月27日
特開 2014-56788	荷電粒子線装置、及び収差補正方法	2014年 3月27日
特開 2014-56785	荷電粒子線装置及び試料観察方法	2014年 3月27日
特開 2014-56783	荷電粒子線装置及び試料観察方法	2014年 3月27日
特開 2014-52391	自動分析装置	2014年 3月20日
再表 2012-56639	パターンの判定装置、及びコンピュータプログラム	2014年 3月20日
特開 2014-53644	プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法	2014年 3月20日
特開 2014-53438	磁気抵抗素子の製造方法	2014年 3月20日
特開 2014-53074	荷電粒子線装置	2014年 3月20日
特開 2014-53073	荷電粒子線装置用部材、荷電粒子線装置および隔膜部材	2014年 3月20日
特開 2014-48248	分析装置及びその試料導入装置	2014年 3月17日
特開 2014-48215	検体検査自動化システムおよび検体の搬送方法	2014年 3月17日
特開 2014-48143	分光光度計	2014年 3月17日
特開 2014-48349	パターン形成方法及び装置、露光装置並びに表示用パネル製造方法	2014年 3月17日
特開 2014-49212	欠陥観察システムおよび欠陥観察方法	2014年 3月17日

659 件中 481-495 件を表示

... 33

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

2014-56167 2014-56788 2014-56785 2014-56783 2014-52391 2012-56639 2014-53644 2014-53438 2014-53074 2014-53073 2014-48248 2014-48215 2014-48143 2014-48349 2014-49212

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社日立ハイテクノロジーズの知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2025年特許出願件数	2025年特許取得件数
2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2012年特許出願件数	2012年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数