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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第52位 689件
（
2010年：第70位 624件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第98位 350件
（
2010年：第95位 307件）
（ランキング更新日：2024年11月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4719569 | パターン検査方法および検査装置 | 2011年 7月 6日 | |
| 特許 4719502 | 試料分離装置 | 2011年 7月 6日 | |
| 特許 4719699 | 走査型電子顕微鏡 | 2011年 7月 6日 | |
| 特許 4719628 | 走査電子顕微鏡 | 2011年 7月 6日 | |
| 特許 4719554 | 集束イオンビーム装置 | 2011年 7月 6日 | |
| 特許 4713849 | 多層配線基板の製造方法 | 2011年 6月29日 | 共同出願 |
| 特許 4713629 | 自動分析装置 | 2011年 6月29日 | |
| 特許 4713401 | 攪拌装置およびそれを用いた自動分析装置 | 2011年 6月29日 | |
| 特許 4713185 | 異物欠陥検査方法及びその装置 | 2011年 6月29日 | |
| 特許 4708292 | 基板検査装置及び基板検査方法 | 2011年 6月22日 | |
| 特許 4705869 | 荷電粒子線システム、およびパターン計測方法 | 2011年 6月22日 | |
| 特許 4704824 | アミノ酸分析法および分析装置 | 2011年 6月22日 | |
| 特許 4709168 | レポート検索方法，レポート検索システム、およびレビュー装置 | 2011年 6月22日 | |
| 特許 4705816 | プラズマ処理装置 | 2011年 6月22日 | |
| 特許 4705789 | 真空処理装置 | 2011年 6月22日 |
350 件中 166-180 件を表示
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4719569 4719502 4719699 4719628 4719554 4713849 4713629 4713401 4713185 4708292 4705869 4704824 4709168 4705816 4705789
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