ホーム > 特許ランキング > 株式会社日立ハイテクノロジーズ > 2011年 > 特許一覧
株式会社日立ハイテクノロジーズ
※ ログインすれば出願人(株式会社日立ハイテクノロジーズ)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2011年 出願公開件数ランキング 第52位 689件
（
2010年：第70位 624件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第98位 350件
（
2010年：第95位 307件）
（ランキング更新日：2025年6月9日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4719569 | パターン検査方法および検査装置 | 2011年 7月 6日 | |
| 特許 4719502 | 試料分離装置 | 2011年 7月 6日 | |
| 特許 4719699 | 走査型電子顕微鏡 | 2011年 7月 6日 | |
| 特許 4719628 | 走査電子顕微鏡 | 2011年 7月 6日 | |
| 特許 4719554 | 集束イオンビーム装置 | 2011年 7月 6日 | |
| 特許 4713849 | 多層配線基板の製造方法 | 2011年 6月29日 | 共同出願 |
| 特許 4713629 | 自動分析装置 | 2011年 6月29日 | |
| 特許 4713401 | 攪拌装置およびそれを用いた自動分析装置 | 2011年 6月29日 | |
| 特許 4713185 | 異物欠陥検査方法及びその装置 | 2011年 6月29日 | |
| 特許 4708292 | 基板検査装置及び基板検査方法 | 2011年 6月22日 | |
| 特許 4705869 | 荷電粒子線システム、およびパターン計測方法 | 2011年 6月22日 | |
| 特許 4704824 | アミノ酸分析法および分析装置 | 2011年 6月22日 | |
| 特許 4709168 | レポート検索方法，レポート検索システム、およびレビュー装置 | 2011年 6月22日 | |
| 特許 4705816 | プラズマ処理装置 | 2011年 6月22日 | |
| 特許 4705789 | 真空処理装置 | 2011年 6月22日 |
350 件中 166-180 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
4719569 4719502 4719699 4719628 4719554 4713849 4713629 4713401 4713185 4708292 4705869 4704824 4709168 4705816 4705789
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社日立ハイテクノロジーズの知財の動向チェックに便利です。
特許ランキング
6月10日(火) -
6月10日(火) -
6月11日(水) -
6月11日(水) -
6月12日(木) -
6月12日(木) -
6月13日(金) -
6月13日(金) -
6月13日(金) -
6月10日(火) -
6月16日(月) - 東京 大田
6月17日(火) -
6月17日(火) -
6月17日(火) -
6月17日(火) -
6月18日(水) -
6月18日(水) -
6月18日(水) -
6月18日(水) -
6月19日(木) -
6月20日(金) - 東京 千代田区
6月20日(金) -
6月16日(月) - 東京 大田
特許事務所紹介 IP Force 特許事務所紹介
東京都新宿区西新宿8-1-9 シンコービル 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
京都市東山区泉涌寺門前町２６番地 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒453-0012 愛知県名古屋市中村区井深町１番１号 新名古屋センタービル・本陣街２階 ２４３－１号室 特許・実用新案 意匠 商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
