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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第59位 716件
（
2012年：第54位 709件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第51位 717件
（
2012年：第71位 547件）
（ランキング更新日：2025年2月21日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5325388 | パネルホルダ装置 | 2013年10月23日 | |
| 特許 5322543 | 基板検査装置及び基板検査方法 | 2013年10月23日 | |
| 特許 5325840 | アミノ酸分析装置、およびアミノ酸分析装置の起動時の処理方法 | 2013年10月23日 | |
| 特許 5325973 | 分析装置 | 2013年10月23日 | |
| 特許 5325997 | 自動分析装置 | 2013年10月23日 | |
| 特許 5324534 | 検査方法及び装置 | 2013年10月23日 | |
| 特許 5320552 | プロキシミティ露光装置、プロキシミティ露光装置のマスク保持方法、及び表示用パネル基板の製造方法 | 2013年10月23日 | |
| 特許 5320551 | プロキシミティ露光装置、プロキシミティ露光装置の基板位置決め方法、及び表示用パネル基板の製造方法 | 2013年10月23日 | |
| 特許 5320187 | 欠陥検査方法及び欠陥検査装置 | 2013年10月23日 | |
| 特許 5323457 | 観察条件決定支援装置および観察条件決定支援方法 | 2013年10月23日 | |
| 特許 5320418 | 荷電粒子線装置 | 2013年10月23日 | |
| 特許 5315302 | 走査透過電子顕微鏡及びその軸調整方法 | 2013年10月16日 | |
| 特許 5314369 | 欠陥検査装置 | 2013年10月16日 | |
| 特許 5315273 | ＦＰＤモジュールの組立装置 | 2013年10月16日 | |
| 特許 5315277 | ＦＰＤモジュールの組立装置 | 2013年10月16日 |
717 件中 166-180 件を表示
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5325388 5322543 5325840 5325973 5325997 5324534 5320552 5320551 5320187 5323457 5320418 5315302 5314369 5315273 5315277
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