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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第59位 716件
（
2012年：第54位 709件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第51位 717件
（
2012年：第71位 547件）
（ランキング更新日：2025年2月21日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5282059 | イオン分子反応イオン化質量分析装置及び分析方法 | 2013年 9月 4日 | |
| 特許 5282002 | 磁気ディスクの両面欠陥検査方法及びその装置 | 2013年 9月 4日 | |
| 特許 5281741 | 欠陥検査装置 | 2013年 9月 4日 | |
| 特許 5281089 | 自動分析装置 | 2013年 9月 4日 | |
| 特許 5281042 | 電気泳動媒体用容器及び電気泳動装置の駆動方法 | 2013年 9月 4日 | |
| 特許 5279992 | 表面検査方法及び装置 | 2013年 9月 4日 | |
| 特許 5279684 | ＬＥＤ駆動回路、発光装置、画像検査装置、分析装置、ＬＥＤ駆動回路の故障検査方法 | 2013年 9月 4日 | |
| 特許 5281987 | 露光装置およびそれを用いた露光方法並びに表示用パネル基板の製造方法 | 2013年 9月 4日 | |
| 特許 5281854 | 光学フィルム貼付け装置、光学フィルム貼付け方法、および表示用パネルの製造方法 | 2013年 9月 4日 | |
| 特許 5280305 | 露光装置、露光方法、及び表示用パネル基板の製造方法 | 2013年 9月 4日 | |
| 特許 5282054 | 磁気ディスク検査方法及びその装置 | 2013年 9月 4日 | |
| 特許 5282009 | 光学式磁気ディスク両面欠陥検査装置及びその方法 | 2013年 9月 4日 | |
| 特許 5282021 | 半導体処理システム及び半導体処理方法 | 2013年 9月 4日 | |
| 特許 5280983 | 荷電粒子線装置、荷電粒子線装置に使用する位置特定方法及びプログラム | 2013年 9月 4日 | |
| 特許 5280928 | 真空処理装置の運転方法 | 2013年 9月 4日 |
717 件中 271-285 件を表示
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5282059 5282002 5281741 5281089 5281042 5279992 5279684 5281987 5281854 5280305 5282054 5282009 5282021 5280983 5280928
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