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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第54位 709件
（
2011年：第52位 689件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第71位 547件
（
2011年：第98位 350件）
（ランキング更新日：2025年1月31日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4982435 | 遠隔保守システム | 2012年 7月25日 | |
| 特許 4982161 | ガス電界電離イオン源、及び走査荷電粒子顕微鏡 | 2012年 7月25日 | |
| 特許 4982055 | プラズマ処理装置 | 2012年 7月25日 | |
| 特許 4979246 | 欠陥観察方法および装置 | 2012年 7月18日 | |
| 特許 4977634 | 自動分析装置 | 2012年 7月18日 | |
| 特許 4977582 | 自動分析装置 | 2012年 7月18日 | |
| 特許 4976112 | 欠陥レビュー方法および装置 | 2012年 7月18日 | |
| 特許 4980675 | 稼働状況を提示することができる装置 | 2012年 7月18日 | |
| 特許 4981410 | 走査型電子顕微鏡、走査型電子顕微鏡を用いたパターンの複合検査方法、および走査型電子顕微鏡の制御装置 | 2012年 7月18日 | |
| 特許 4979430 | プラズマエッチング方法 | 2012年 7月18日 | |
| 特許 4977509 | 走査電子顕微鏡 | 2012年 7月18日 | |
| 特許 4977399 | 荷電粒子線装置 | 2012年 7月18日 | |
| 特許 4972613 | 送液装置および液体クロマトグラフ | 2012年 7月11日 | |
| 特許 4972329 | 高速液体クロマトグラフ用カラム及び高速液体クロマトグラフ装置 | 2012年 7月11日 | |
| 特許 4972298 | 半導体デバイスの欠陥検査方法及びその装置 | 2012年 7月11日 |
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4982435 4982161 4982055 4979246 4977634 4977582 4976112 4980675 4981410 4979430 4977509 4977399 4972613 4972329 4972298
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