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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第59位 716件
（
2012年：第54位 709件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第51位 717件
（
2012年：第71位 547件）
（ランキング更新日：2025年2月21日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5275017 | 欠陥検査方法及びその装置 | 2013年 8月28日 | |
| 特許 5277317 | 荷電粒子顕微鏡 | 2013年 8月28日 | |
| 特許 5277250 | 荷電粒子線応用装置およびその幾何収差測定方法 | 2013年 8月28日 | |
| 特許 5277008 | パターン測定条件設定方法、及びパターン測定条件設定装置 | 2013年 8月28日 | |
| 特許 5276860 | 走査電子顕微鏡 | 2013年 8月28日 | |
| 特許 5274419 | 荷電粒子線装置 | 2013年 8月28日 | |
| 特許 5272051 | 荷電粒子線装置 | 2013年 8月28日 | |
| 特許 5268749 | 基板状態検査方法及びレーザ加工装置並びにソーラパネル製造方法 | 2013年 8月21日 | |
| 特許 5268989 | 核酸分析反応セルおよび核酸分析装置 | 2013年 8月21日 | |
| 特許 5268444 | 単分子リアルタイムシーケンス装置，核酸分析装置及び単分子リアルタイムシーケンス方法 | 2013年 8月21日 | |
| 特許 5271929 | 自動分析装置 | 2013年 8月21日 | |
| 特許 5271776 | 自動分析装置 | 2013年 8月21日 | |
| 特許 5271491 | 電子線応用装置および試料検査方法 | 2013年 8月21日 | |
| 特許 5270771 | 液体クロマトグラフ装置及び試料導入装置 | 2013年 8月21日 | |
| 特許 5268779 | 流路切替バルブ，フローインジェクション装置，液体クロマトグラフィ装置，超臨界クロマトグラフィ装置、及び分析システム | 2013年 8月21日 |
717 件中 301-315 件を表示
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5275017 5277317 5277250 5277008 5276860 5274419 5272051 5268749 5268989 5268444 5271929 5271776 5271491 5270771 5268779
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