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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第54位 709件
（
2011年：第52位 689件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第71位 547件
（
2011年：第98位 350件）
（ランキング更新日：2025年1月31日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4887174 | 自動分析装置 | 2012年 2月29日 | |
| 特許 4887062 | 試料寸法測定方法、及び試料寸法測定装置 | 2012年 2月29日 | |
| 特許 4886981 | チップ検査装置及びチップ検査方法 | 2012年 2月29日 | |
| 特許 4886734 | ディスク反転搬送機構およびこれを利用したディスク検査装置 | 2012年 2月29日 | |
| 特許 4884275 | 自動分析装置 | 2012年 2月29日 | |
| 特許 4884149 | 露光装置、露光方法、及び表示用パネル基板の製造方法 | 2012年 2月29日 | |
| 特許 4887344 | ガス電界電離イオン源，走査荷電粒子顕微鏡，光軸調整方法、及び試料観察方法 | 2012年 2月29日 | |
| 特許 4887049 | 荷電粒子線装置の試料台 | 2012年 2月29日 | |
| 特許 4887030 | 荷電粒子線装置 | 2012年 2月29日 | |
| 特許 4884296 | 基板支持装置及び基板支持方法 | 2012年 2月29日 | |
| 特許 4880941 | 真空搬送装置およびこれを備えた荷電粒子線検査装置 | 2012年 2月22日 | |
| 特許 4881779 | 微粒子配置方法，微粒子が配置されたデバイス、及び、微粒子が配置されたデバイスの作成装置 | 2012年 2月22日 | |
| 特許 4881950 | 液体搬送デバイス | 2012年 2月22日 | |
| 特許 4881765 | 自動分析装置 | 2012年 2月22日 | |
| 特許 4881661 | 荷電粒子線装置 | 2012年 2月22日 |
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4887174 4887062 4886981 4886734 4884275 4884149 4887344 4887049 4887030 4884296 4880941 4881779 4881950 4881765 4881661
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