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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第54位 709件
（
2011年：第52位 689件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第71位 547件
（
2011年：第98位 350件）
（ランキング更新日：2025年1月31日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4871761 | 生体サンプルの分析方法、及び自動分析装置 | 2012年 2月 8日 | |
| 特許 4871618 | 精度管理システム | 2012年 2月 8日 | |
| 特許 4871615 | 自動分析装置 | 2012年 2月 8日 | |
| 特許 4871027 | 試料載置用のステージ、ＸＹステージおよび荷電粒子線装置 | 2012年 2月 8日 | |
| 特許 4870603 | 固相抽出カラムの水分除去確認方法及び固相抽出カラムの水分除去確認装置並びに固相抽出カラム | 2012年 2月 8日 | |
| 特許 4870450 | 検査装置、および検査方法 | 2012年 2月 8日 | |
| 特許 4866808 | 自動分析装置 | 2012年 2月 1日 | |
| 特許 4866176 | 走査型電子顕微鏡を備えたプローバ装置及びプローバ装置の探針クリーニング方法 | 2012年 2月 1日 | |
| 特許 4866141 | ＳＥＭ式レビュー装置を用いた欠陥レビュー方法及びＳＥＭ式欠陥レビュー装置 | 2012年 2月 1日 | |
| 特許 4868796 | 液晶モジュールの位置ずれ検出方法 | 2012年 2月 1日 | |
| 特許 4865204 | 画像処理方法、画像処理装置及び半導体検査装置 | 2012年 2月 1日 | |
| 特許 4866045 | 電子顕微鏡装置および同装置における試料ステージの位置決め制御方法 | 2012年 2月 1日 | |
| 特許 4865421 | 環境制御型電子線装置 | 2012年 2月 1日 | |
| 特許 4865373 | ドライエッチング方法 | 2012年 2月 1日 | |
| 特許 4865361 | ドライエッチング方法 | 2012年 2月 1日 |
547 件中 496-510 件を表示
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4871761 4871618 4871615 4871027 4870603 4870450 4866808 4866176 4866141 4868796 4865204 4866045 4865421 4865373 4865361
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2月14日(金) - 東京 千代田区
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