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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第54位 709件 (2011年:第52位 689件)
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第71位 547件 (2011年:第98位 350件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 4865253 | プラズマ処理装置 | 2012年 2月 1日 | |
特許 4863948 | 露光装置、露光方法、及び表示用パネル基板の製造方法 | 2012年 1月25日 | |
特許 4863764 | 半導体試験装置 | 2012年 1月25日 | |
特許 4861933 | 自動分析装置 | 2012年 1月25日 | |
特許 4861107 | クロマトグラフ装置および分析方法 | 2012年 1月25日 | |
特許 4860575 | クロマトグラフィー質量分析の分析結果表示方法及び表示装置 | 2012年 1月25日 | |
特許 4860367 | 液体クロマトグラフ装置 | 2012年 1月25日 | |
特許 4863939 | 露光装置、露光方法、及び表示用パネル基板の製造方法 | 2012年 1月25日 | |
特許 4861947 | Al2O3膜のドライエッチング方法 | 2012年 1月25日 | |
特許 4863886 | 電子線応用装置および電子源の安定稼動状態判定方法 | 2012年 1月25日 | |
特許 4863773 | 電子顕微鏡装置およびブレーキ機構 | 2012年 1月25日 | |
特許 4861747 | 座標補正方法および観察装置 | 2012年 1月25日 | |
特許 4861675 | 荷電粒子線装置 | 2012年 1月25日 | |
特許 4860294 | 電子顕微鏡 | 2012年 1月25日 | |
特許 4857049 | デュワおよびそれを備えた生体磁気計測装置 | 2012年 1月18日 |
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4865253 4863948 4863764 4861933 4861107 4860575 4860367 4863939 4861947 4863886 4863773 4861747 4861675 4860294 4857049
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2月4日(火) - 東京 港区
2月4日(火) - 神奈川 川崎市
2月4日(火) -
2月4日(火) -
2月5日(水) - 東京 港区
2月5日(水) -
2月5日(水) -
2月5日(水) -
2月6日(木) - 東京 港区
2月6日(木) -
2月7日(金) -
2月7日(金) - 東京 港区
2月7日(金) - 神奈川 横浜市
2月7日(金) -
2月13日(木) - 岐阜 大垣市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月13日(木) - 神奈川 綾瀬市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月14日(金) - 東京 大田
<エンジニア(技術者)および研究開発担当(R&D部門)向け> 基礎から学ぶ/自分で行うIPランドスケープ®の活用・実践 <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月14日(金) - 東京 千代田区
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