ホーム > 特許ランキング > 株式会社日立ハイテクノロジーズ > 2012年 > 特許一覧
※ ログインすれば出願人(株式会社日立ハイテクノロジーズ)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2012年 出願公開件数ランキング 第54位 709件 (2011年:第52位 689件)
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第71位 547件 (2011年:第98位 350件)
(ランキング更新日:2025年1月31日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 4857223 | 自動分析装置 | 2012年 1月18日 | |
特許 4854256 | パネル処理装置及び処理方法 | 2012年 1月18日 | |
特許 4856978 | プラズマエッチング装置及び処理室の内壁の形成方法 | 2012年 1月18日 | |
特許 4857384 | 電気泳動装置 | 2012年 1月18日 | |
特許 4857240 | 半導体ウェーハ検査装置 | 2012年 1月18日 | |
特許 4857174 | 欠陥検査方法及び欠陥検査装置 | 2012年 1月18日 | |
特許 4857155 | データ処理装置,検査システム、およびデータ処理方法 | 2012年 1月18日 | |
特許 4857090 | 校正用標準部材およびその作製方法、並びに校正用標準部材を用いた走査電子顕微鏡 | 2012年 1月18日 | |
特許 4857088 | 電気泳動装置 | 2012年 1月18日 | |
特許 4857000 | 質量分析システム | 2012年 1月18日 | |
特許 4856993 | 自己診断型自動分析装置 | 2012年 1月18日 | |
特許 4856499 | 自動分析装置および自動分析方法 | 2012年 1月18日 | |
特許 4855978 | 自動分析装置 | 2012年 1月18日 | |
特許 4855974 | 分析システム | 2012年 1月18日 | |
特許 4857095 | 欠陥レビュー方法及びその装置 | 2012年 1月18日 |
547 件中 526-540 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
4857223 4854256 4856978 4857384 4857240 4857174 4857155 4857090 4857088 4857000 4856993 4856499 4855978 4855974 4857095
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社日立ハイテクノロジーズの知財の動向チェックに便利です。
2月4日(火) - 東京 港区
2月4日(火) - 神奈川 川崎市
2月4日(火) -
2月4日(火) -
2月5日(水) - 東京 港区
2月5日(水) -
2月5日(水) -
2月5日(水) -
2月6日(木) - 東京 港区
2月6日(木) -
2月7日(金) -
2月7日(金) - 東京 港区
2月7日(金) - 神奈川 横浜市
2月7日(金) -
2月13日(木) - 岐阜 大垣市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月13日(木) - 神奈川 綾瀬市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月14日(金) - 東京 大田
<エンジニア(技術者)および研究開発担当(R&D部門)向け> 基礎から学ぶ/自分で行うIPランドスケープ®の活用・実践 <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月14日(金) - 東京 千代田区
東京都品川区東品川2丁目2番24号 天王洲セントラルタワー 22階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒550-0005 大阪市西区西本町1-8-11 カクタスビル6F 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒210-0024 神奈川県川崎市川崎区日進町3-4 unicoA 303 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング