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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第59位 716件
（
2012年：第54位 709件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第51位 717件
（
2012年：第71位 547件）
（ランキング更新日：2025年2月21日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5189825 | 磁気信号計測装置および磁気信号計測方法 | 2013年 4月24日 | |
| 特許 5188405 | 質量分析装置 | 2013年 4月24日 | |
| 特許 5190024 | ＡＣＦ貼付装置およびフラットパネルディスプレイの製造装置 | 2013年 4月24日 | |
| 特許 5190034 | 露光装置 | 2013年 4月24日 | |
| 特許 5188132 | データ処理装置の表示方法 | 2013年 4月24日 | |
| 特許 5190119 | 荷電粒子線装置 | 2013年 4月24日 | |
| 特許 5190087 | 欠陥レビュー装置 | 2013年 4月24日 | |
| 特許 5190076 | 電子部品接着用の異方性導電体の供給装置 | 2013年 4月24日 | |
| 特許 5190075 | 荷電粒子線装置 | 2013年 4月24日 | |
| 特許 5189859 | プラズマ処理方法 | 2013年 4月24日 | |
| 特許 5189058 | 走査形電子顕微鏡 | 2013年 4月24日 | |
| 特許 5188529 | 電子ビーム照射方法、及び走査電子顕微鏡 | 2013年 4月24日 | |
| 特許 5188385 | プラズマ処理装置及びプラズマ処理装置の運転方法 | 2013年 4月24日 | |
| 特許 5188263 | 走査電子顕微鏡 | 2013年 4月24日 | |
| 特許 5185898 | 太陽電池用タブ線の貼付装置及びその貼付方法 | 2013年 4月17日 |
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5189825 5188405 5190024 5190034 5188132 5190119 5190087 5190076 5190075 5189859 5189058 5188529 5188385 5188263 5185898
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