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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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  2014年 出願公開件数ランキング    第59位 659件 変わらず2013年:第59位 716件)

  2014年 特許取得件数ランキング    第54位 625件 下降2013年:第51位 717件)

(ランキング更新日:2021年1月14日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

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公報番号発明の名称公報発行日備考
特許 5619939 パターン転写方法 2014年11月 5日
特許 5618556 核酸分析装置,核酸分析反応デバイス、および核酸分析用反応デバイス用基板 2014年11月 5日
特許 5620634 分光測光用樹脂製セルおよびその製造方法 2014年11月 5日
特許 5615941 異物検出装置及び異物検出方法 2014年10月29日
特許 5616773 核酸分析用反応デバイス、及び核酸分析装置 2014年10月29日
特許 5610954 光学式レール変位検出装置 2014年10月22日
特許 5611951 試料処理システム 2014年10月22日
特許 5613298 自動分析装置 2014年10月22日
特許 5611016 露光装置、露光方法、及び表示用パネル基板の製造方法 2014年10月22日
特許 5612950 トロリ線測定用投光装置及びトロリ線測定装置 2014年10月22日
特許 5611149 光学顕微鏡装置及びこれを備えた検査装置 2014年10月22日
特許 5608209 欠陥レビュー装置 2014年10月15日
特許 5608575 画像分類方法および画像分類装置 2014年10月15日
特許 5608208 欠陥レビュー装置 2014年10月15日
特許 5608632 基板の粗さを得る方法、及び基板の粗さを得るための装置 2014年10月15日

625 件中 46-60 件を表示

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5619939 5618556 5620634 5615941 5616773 5610954 5611951 5613298 5611016 5612950 5611149 5608209 5608575 5608208 5608632

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