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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第54位 709件
（
2011年：第52位 689件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第71位 547件
（
2011年：第98位 350件）
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5081497 | プラズマ処理装置 | 2012年11月28日 | |
| 特許 5081473 | 液体クロマトグラフ及び分離カラム | 2012年11月28日 | |
| 特許 5086105 | ガス電界電離イオン源 | 2012年11月28日 | |
| 特許 5081590 | 欠陥観察分類方法及びその装置 | 2012年11月28日 | |
| 特許 5080945 | 質量分析装置および質量分析方法 | 2012年11月21日 | |
| 特許 5075646 | 半導体欠陥検査装置ならびにその方法 | 2012年11月21日 | |
| 特許 5075393 | 走査電子顕微鏡 | 2012年11月21日 | |
| 特許 5078920 | 液面検出装置及び方法 | 2012年11月21日 | |
| 特許 5075790 | 検体検査前処理システム、および検体検査前処理方法 | 2012年11月21日 | |
| 特許 5075801 | 観察試料作製方法 | 2012年11月21日 | |
| 特許 5075375 | 走査電子顕微鏡 | 2012年11月21日 | |
| 特許 5078431 | 荷電粒子ビーム装置、その収差補正値算出装置、及びその収差補正プログラム | 2012年11月21日 | |
| 特許 5075431 | 帯電測定方法、焦点調整方法、及び走査電子顕微鏡 | 2012年11月21日 | |
| 特許 5080657 | 走査電子顕微鏡 | 2012年11月21日 | |
| 特許 5074453 | 圧着装置および保護シートの交換方法 | 2012年11月14日 |
547 件中 61-75 件を表示
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5081497 5081473 5086105 5081590 5080945 5075646 5075393 5078920 5075790 5075801 5075375 5078431 5075431 5080657 5074453
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