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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第54位 709件
（
2011年：第52位 689件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第71位 547件
（
2011年：第98位 350件）
（ランキング更新日：2025年1月31日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5072758 | 光学フィルム貼り付け装置及び表示用パネルの製造方法 | 2012年11月14日 | |
| 特許 5075111 | 画像分類基準更新方法、プログラムおよび画像分類装置 | 2012年11月14日 | |
| 特許 5074453 | 圧着装置および保護シートの交換方法 | 2012年11月14日 | |
| 特許 5074429 | 成膜装置 | 2012年11月14日 | |
| 特許 5074368 | 成膜装置 | 2012年11月14日 | |
| 特許 5074741 | 真空処理装置 | 2012年11月14日 | |
| 特許 5074058 | 異物検査方法及び異物検査装置 | 2012年11月14日 | |
| 特許 5068591 | 半導体欠陥分類方法、半導体欠陥分類装置、半導体欠陥分類装置のプログラム、半導体欠陥検査方法、および、半導体欠陥検査システム | 2012年11月 7日 | |
| 特許 5066056 | 試料観察方法、及び電子顕微鏡 | 2012年11月 7日 | |
| 特許 5066110 | 蛍光分析装置、及び蛍光分析方法 | 2012年11月 7日 | |
| 特許 5066393 | 異物・欠陥検査・観察システム | 2012年11月 7日 | |
| 特許 5065796 | 走査電子顕微鏡 | 2012年11月 7日 | |
| 特許 5065731 | パネル処理装置 | 2012年11月 7日 | |
| 特許 5065943 | 製造プロセスモニタリングシステム | 2012年11月 7日 | |
| 特許 5065826 | 基板の液処理装置及び液処理方法 | 2012年11月 7日 |
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5072758 5075111 5074453 5074429 5074368 5074741 5074058 5068591 5066056 5066110 5066393 5065796 5065731 5065943 5065826
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