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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第52位 689件
（
2010年：第70位 624件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第98位 350件
（
2010年：第95位 307件）
（ランキング更新日：2025年1月31日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4790435 | ３次元液体クロマトグラフィ | 2011年10月12日 | |
| 特許 4791141 | 電子線式寸法計測装置及びそれを用いた寸法計測方法 | 2011年10月12日 | |
| 特許 4791267 | 欠陥検査システム | 2011年10月12日 | |
| 特許 4789651 | シミュレーション装置、シミュレーションプログラム及びシミュレーション方法 | 2011年10月12日 | |
| 特許 4786589 | 円周方向のスクラッチ欠陥検出方法および磁気ディスクサーテファイア | 2011年10月 5日 | |
| 特許 4787698 | 画像表示方法 | 2011年10月 5日 | |
| 特許 4782579 | タンデム型質量分析システム及び方法 | 2011年 9月28日 | |
| 特許 4781294 | パターン形成装置及びこれらを用いた表示用パネル製造方法 | 2011年 9月28日 | |
| 特許 4782585 | プラズマエッチング装置及び方法 | 2011年 9月28日 | |
| 特許 4782596 | プラズマ処理方法 | 2011年 9月28日 | |
| 特許 4782957 | 基板の配線パターン切断方法及び装置 | 2011年 9月28日 | |
| 特許 4778778 | 半導体デバイスのモニタリング方法およびモニタリング装置 | 2011年 9月21日 | |
| 特許 4778408 | ディスクのチャック機構およびディスクキャリア | 2011年 9月21日 | |
| 特許 4778748 | 液体クロマトグラフ装置 | 2011年 9月21日 | |
| 特許 4778755 | 欠陥検査方法及びこれを用いた装置 | 2011年 9月21日 |
350 件中 91-105 件を表示
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4790435 4791141 4791267 4789651 4786589 4787698 4782579 4781294 4782585 4782596 4782957 4778778 4778408 4778748 4778755
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