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レーザーテック株式会社
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第1466位 17件
（
2011年：第1174位 22件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第1367位 19件
（2011年：第1052位 25件）
（ランキング更新日：2025年3月28日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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レーザーテック株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4895353 | 干渉計、及び形状の測定方法 | 2012年 3月14日 | |
| 特許 4883535 | 欠陥修正装置、欠陥修正方法、及びパターン基板の製造方法 | 2012年 2月22日 | |
| 特許 4883751 | ３次元形状測定装置及び３次元形状測定方法 | 2012年 2月22日 | |
| 特許 4883817 | 検査装置、検査方法及びパターン基板の製造方法 | 2012年 2月22日 |
19 件中 16-19 件を表示
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4895353 4883535 4883751 4883817
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