ホーム > 特許ランキング > レーザーテック株式会社 > 2013年 > 特許一覧
レーザーテック株式会社
※ ログインすれば出願人(レーザーテック株式会社)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2013年 出願公開件数ランキング 第1304位 22件
（
2012年：第1466位 17件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第1098位 25件
（2012年：第1367位 19件）
（ランキング更新日：2025年8月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
レーザーテック株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5344629 | 検査装置及び検査方法 | 2013年11月20日 | |
| 特許 5344598 | 基板保持装置、欠陥検査装置及び欠陥修正装置 | 2013年11月20日 | |
| 特許 5344545 | 基板保持装置 | 2013年11月20日 | |
| 特許 5344595 | 太陽電池の評価装置、評価方法、及び太陽電池の製造方法 | 2013年11月20日 | |
| 特許 5317138 | 検査装置及び欠陥検査方法 | 2013年10月16日 | |
| 特許 5278784 | パターン検査装置及びパターン検査方法、パターン基板の製造方法 | 2013年 9月 4日 | |
| 特許 5278783 | 欠陥検査装置、欠陥検査方法、及び欠陥検査プログラム | 2013年 9月 4日 | |
| 特許 5273644 | 膜厚測定装置及び膜厚測定方法 | 2013年 8月28日 | |
| 特許 5273652 | 加工装置、加工方法、欠陥修正装置、欠陥修正方法及びパターン基板の製造方法。 | 2013年 8月28日 | |
| 特許 5268115 | 膜厚測定装置、及び膜厚測定方法 | 2013年 8月21日 | |
| 特許 5268088 | 表面形状測定装置及び表面形状測定方法 | 2013年 8月21日 | |
| 特許 5268061 | 基板検査装置 | 2013年 8月21日 | |
| 特許 5266551 | 表面形状測定装置、及び表面形状測定方法 | 2013年 8月21日 | |
| 特許 5240980 | ３次元測定装置及び検査装置 | 2013年 7月17日 | |
| 特許 5239049 | 粗さ測定方法及び粗さ測定装置 | 2013年 7月17日 |
25 件中 1-15 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
5344629 5344598 5344545 5344595 5317138 5278784 5278783 5273644 5273652 5268115 5268088 5268061 5266551 5240980 5239049
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。レーザーテック株式会社の知財の動向チェックに便利です。
特許ランキング
8月28日(木) - 東京 港区
8月28日(木) -
8月28日(木) -
8月29日(金) - 大阪 大阪市
8月29日(金) -
8月29日(金) -
8月29日(金) - 東京 港区
8月29日(金) -
9月1日(月) - 千葉 千葉市美浜区中瀬1丁目3番地
9月1日(月) - 東京 港区
特許庁：AI／DX時代に即した産業財産権制度について ～有識者委員会での議論を踏まえた、特許・意匠制度の見直しの方向性～
9月1日(月) -
9月2日(火) -
9月2日(火) -
9月2日(火) - 東京 港区
9月3日(水) -
9月3日(水) -
9月4日(木) - 大阪 大阪市
9月4日(木) -
9月4日(木) - 大阪 大阪市
9月5日(金) -
9月5日(金) -
9月6日(土) -
9月1日(月) - 千葉 千葉市美浜区中瀬1丁目3番地
特許事務所紹介 IP Force 特許事務所紹介
愛知県日進市岩崎町野田３－１８ 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
千葉県柏市若柴178番地４ 柏の葉キャンパス148街区2 ショップ＆オフィス棟6階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許
大阪府大阪市中央区北浜３丁目５－１９ 淀屋橋ホワイトビル２階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
