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レーザーテック株式会社
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■ 2020年 出願公開件数ランキング 第1238位 20件
（
2019年：第2044位 11件）
■ 2020年 特許取得件数ランキング 第2756位 5件
（
2019年：第2101位 7件）
（ランキング更新日：2025年4月3日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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レーザーテック株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6750793 | 膜厚測定装置及び膜厚測定方法 | 2020年 9月 2日 | |
| 特許 6716086 | 光源装置、検査装置、及び光源装置の制御方法 | 2020年 7月 1日 | |
| 特許 6709407 | 厚さ測定装置及び厚さ分布測定装置 | 2020年 6月17日 | |
| 特許 6684992 | 突起検査装置及びバンプ検査装置 | 2020年 4月22日 | |
| 特許 6644282 | 測定装置、及び測定方法 | 2020年 2月12日 |
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6750793 6716086 6709407 6684992 6644282
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