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レーザーテック株式会社
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■ 2022年 出願公開件数ランキング 第1746位 13件
（
2021年：第1359位 18件）
■ 2022年 特許取得件数ランキング 第1763位 11件
（
2021年：第2016位 8件）
（ランキング更新日：2025年8月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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レーザーテック株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7192156 | 光源装置及び検査装置 | 2022年12月19日 | |
| 特許 7171454 | 検査装置、照明装置、及びシェーディング抑制方法 | 2022年11月15日 | |
| 特許 7168425 | マスク検査方法及びマスク検査装置 | 2022年11月 9日 | |
| 特許 7168743 | 画像処理装置および画像処理方法 | 2022年11月 9日 | |
| 特許 7145030 | 測定方法及び測定装置 | 2022年 9月30日 | |
| 特許 7132455 | 光源装置、検査装置、および調整方法 | 2022年 9月 6日 | |
| 特許 7076346 | 異物除去方法、検査方法、露光方法、異物除去装置、検査装置及び露光装置 | 2022年 5月27日 | |
| 特許 7058324 | 検査装置、検査方法、学習方法、及びプログラム | 2022年 4月21日 | |
| 特許 7050601 | 照明方法、撮像方法、照明装置及び撮像装置 | 2022年 4月 8日 | |
| 特許 7046613 | 光源装置、検査装置、及び光源装置の制御方法 | 2022年 4月 4日 | |
| 特許 7023703 | 段差測定方法及び段差測定装置 | 2022年 2月22日 |
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7192156 7171454 7168425 7168743 7145030 7132455 7076346 7058324 7050601 7046613 7023703
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