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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第53位 714件
(2011年:第62位 621件)
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第37位 902件
(2011年:第41位 739件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2012-149288 | 基板処理装置のドライクリーニング方法 | 2012年 8月 9日 | 共同出願 |
特開 2012-146851 | 電極製造装置、電極製造方法、プログラム及びコンピュータ記憶媒体 | 2012年 8月 2日 | |
特開 2012-143704 | 塗布膜除去方法及びその装置 | 2012年 8月 2日 | |
特開 2012-146748 | 基板搬送装置 | 2012年 8月 2日 | |
特開 2012-146855 | 基板処理装置 | 2012年 8月 2日 | |
特開 2012-147027 | 基板処理装置 | 2012年 8月 2日 | |
特開 2012-147018 | 成膜装置 | 2012年 8月 2日 | |
特開 2012-147017 | 成膜装置 | 2012年 8月 2日 | |
特開 2012-147016 | アモルファスシリコン膜の成膜方法および成膜装置 | 2012年 8月 2日 | |
特開 2012-146955 | 窒化シリコン膜の成膜方法及び成膜装置 | 2012年 8月 2日 | |
特開 2012-146924 | 成膜装置 | 2012年 8月 2日 | |
特開 2012-146923 | 成膜装置 | 2012年 8月 2日 | |
再表 2010-87385 | 成膜装置およびガス吐出部材 | 2012年 8月 2日 | |
特開 2012-146863 | プローブカードの熱的安定化方法及び検査装置 | 2012年 8月 2日 | |
特開 2012-145459 | 温度センサ、温度センサの製造方法、半導体装置、半導体装置の製造方法及び半導体装置の制御方法 | 2012年 8月 2日 |
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2012-149288 2012-146851 2012-143704 2012-146748 2012-146855 2012-147027 2012-147018 2012-147017 2012-147016 2012-146955 2012-146924 2012-146923 2010-87385 2012-146863 2012-145459
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パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 -自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法- <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
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2月26日(水) -
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2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
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