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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第58位 686件
(2013年:第60位 712件)
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第48位 694件
(2013年:第45位 796件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2014-199917 | 基板液処理方法、基板液処理装置および記憶媒体 | 2014年10月23日 | |
特開 2014-199805 | 乾燥装置及び乾燥処理方法 | 2014年10月23日 | 共同出願 |
特開 2014-199806 | 乾燥装置及び乾燥処理方法 | 2014年10月23日 | 共同出願 |
特開 2014-199881 | 液処理装置、液処理方法、測定用冶具 | 2014年10月23日 | |
特開 2014-199795 | 有機デバイスの製造方法、有機デバイスの製造装置及び有機デバイス | 2014年10月23日 | |
特開 2014-199856 | 縦型熱処理装置の運転方法及び記憶媒体並びに縦型熱処理装置 | 2014年10月23日 | |
特開 2014-197625 | 基板搬送機構の調整具及び当該調整具を用いた調整方法 | 2014年10月16日 | |
特開 2014-196537 | 原料ガス供給装置、成膜装置及び原料ガス供給方法 | 2014年10月16日 | |
特開 2014-197603 | エッチング方法 | 2014年10月16日 | 共同出願 |
特開 2014-197636 | 成膜方法および成膜装置 | 2014年10月16日 | |
特開 2014-197713 | 基板搬送装置、基板搬送方法及び記憶媒体 | 2014年10月16日 | |
特開 2014-195808 | ガス分解システムおよびガス分解器の寿命確認方法 | 2014年10月16日 | |
特開 2014-196982 | パーティクル測定装置、半導体製造装置及びパーティクル測定方法 | 2014年10月16日 | |
特開 2014-197638 | 基板処理方法、基板処理装置および記憶媒体 | 2014年10月16日 | |
特開 2014-196980 | 気中残留物の測定装置、半導体製造装置及び気中残留物の測定方法 | 2014年10月16日 |
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2014-199917 2014-199805 2014-199806 2014-199881 2014-199795 2014-199856 2014-197625 2014-196537 2014-197603 2014-197636 2014-197713 2014-195808 2014-196982 2014-197638 2014-196980
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