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■ 2024年 出願公開件数ランキング 第157位 232件 (2023年:第129位 274件)
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第73位 389件 (2023年:第74位 421件)
(ランキング更新日:2025年1月8日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特許 7576906 | イメージング装置およびイメージング装置の作動方法 | 2024年11月 1日 | |
特許 7577197 | 分析システム、分析システム用表示方法、及び、分析システム用プログラム | 2024年11月 1日 | |
特許 7576708 | 糖鎖の分析方法 | 2024年10月31日 | |
特許 7574580 | 材料試験機、及び材料試験機の制御方法 | 2024年10月29日 | |
特許 7574661 | X線透視撮影装置 | 2024年10月29日 | |
特許 7571519 | X線透視撮影装置およびX線画像処理方法 | 2024年10月23日 | |
特許 7571533 | X線画像処理装置およびX線画像処理方法 | 2024年10月23日 | |
特許 7571554 | pH測定装置及び液体クロマトグラフ | 2024年10月23日 | |
特許 7571582 | 粒子画像解析装置、粒子画像解析方法、及び粒子画像解析プログラム | 2024年10月23日 | |
特許 7571791 | ピーク形状推定装置およびピーク形状推定方法 | 2024年10月23日 | |
特許 7571849 | イオン源アセンブリ及び質量分析装置 | 2024年10月23日 | |
特許 7571874 | フレーム原子吸光分光光度計 | 2024年10月23日 | |
特許 7571895 | 質量分析装置および検波ユニット | 2024年10月23日 | |
特許 7571284 | 分析システム、分析方法、及び分析システム用プログラム | 2024年10月22日 | |
特許 7570497 | 分析システム及び分析システム用プログラム | 2024年10月21日 |
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7576906 7577197 7576708 7574580 7574661 7571519 7571533 7571554 7571582 7571791 7571849 7571874 7571895 7571284 7570497
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1月15日(水) - 東京 千代田区
1月15日(水) -
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1月16日(木) -
1月17日(金) - 東京 渋谷区
1月17日(金) -
1月17日(金) -
1月14日(火) - 東京 港区
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