株式会社ミツトヨ
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■ 2023年 出願公開件数ランキング 第725位 39件
（
2022年：第346位 98件）
■ 2023年 特許取得件数ランキング 第279位 119件
（2022年：第278位 113件）
（ランキング更新日：2024年9月20日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社ミツトヨの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7294915 | オフセット補正装置および位置測定装置 | 2023年 6月20日 | |
| 特許 7293078 | 解析装置、解析方法、干渉測定システム、およびプログラム | 2023年 6月19日 | |
| 特許 7290498 | デジタル表示読取装置及びプログラム | 2023年 6月13日 | |
| 特許 7289772 | 硬さ試験機、硬さ試験方法及びプログラム | 2023年 6月12日 | |
| 特許 7289222 | 測定装置および測定方法 | 2023年 6月 9日 | |
| 特許 7286232 | 高さ測定機 | 2023年 6月 5日 | |
| 特許 7286485 | 計測用Ｘ線ＣＴ装置 | 2023年 6月 5日 | |
| 特許 7286512 | テストインジケータ | 2023年 6月 5日 | |
| 特許 7284652 | 測定装置および測定方法 | 2023年 5月31日 | |
| 特許 7282960 | アナログ測定工具の測定値の読み取り装置 | 2023年 5月29日 | |
| 特許 7282962 | アナログ測定工具の測定値の読み取り装置 | 2023年 5月29日 | |
| 特許 7280772 | 表面性状測定装置のパラメータ校正方法 | 2023年 5月24日 | |
| 特許 7272743 | 表面性状測定装置の制御方法 | 2023年 5月12日 | |
| 特許 7271065 | 測定システム | 2023年 5月11日 | |
| 特許 7271066 | 光学式測定装置 | 2023年 5月11日 |
121 件中 61-75 件を表示
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7294915 7293078 7290498 7289772 7289222 7286232 7286485 7286512 7284652 7282960 7282962 7280772 7272743 7271065 7271066
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最新の制度改正を反映 海外の特許制度と実務上の留意点（米国・欧州（EPC)・中国）～米国ならびに EPC （欧州特許条約）・中国の各制度の下でのグローバル特許取得の基本的な知識と留意点を解説します～
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