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エフ　イー　アイ　カンパニ

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　■　2026年特許取得件数ランキング　　　第912位　18件（2025年：第625位　37件）

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エフ　イー　アイ　カンパニの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特表 2026-533459	テンソルテンプレートマッチング	2026年10月 6日
特開 2026-150543	レーザ位相板を使用するときの、最適な画像コントラストを見つけるための方法	2026年 9月28日
特開 2026-148509	デュアルビームシステムのための適応照明	2026年 9月17日
特開 2026-134192	荷電粒子ビームデバイスの迅速なモード切り替え	2026年 8月20日
特開 2026-116738	レーザ位相板のためのオフプレーン撮像モード	2026年 7月10日
特表 2026-519792	サンプル調製のための方法及びシステム	2026年 6月18日
特開 2026-95379	電子顕微鏡撮像のためのシステムおよび方法	2026年 6月10日
特開 2026-94472	複合試料評価ワークフローのためのスマート試料容器	2026年 6月 9日
特開 2026-93353	サンプル緩和を可能にする分散撮像	2026年 6月 8日
特開 2026-89678	科学機器ワークフロー中断の大規模言語モデル解決	2026年 6月 1日
特開 2026-87506	多次元データセットを収集する方法及び関連するシステム	2026年 5月27日
特開 2026-82751	変形特性を決定する方法及び関連するシステム	2026年 5月19日
特開 2026-65627	長期取得のためのダーク補正	2026年 4月15日
特開 2026-59773	電子顕微鏡生成画像の取得及び符号化	2026年 4月 7日
特開 2026-52670	電子顕微鏡の磁場倍率制御	2026年 3月24日

35 件中 1-15 件を表示

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2026-533459 2026-150543 2026-148509 2026-134192 2026-116738 2026-519792 2026-95379 2026-94472 2026-93353 2026-89678 2026-87506 2026-82751 2026-65627 2026-59773 2026-52670

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