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エフ　イー　アイ　カンパニ

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エフ　イー　アイ　カンパニの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 7789855	断層撮影におけるランダムな角度のサンプリングのための回転するサンプルホルダ	2025年12月22日
特許 7771508	三次元再構成のためのデータ取得および処理技術	2025年11月18日
特許 7757600	高速信号処理のための方法およびシステム	2025年10月22日
特許 7747256	高ダイナミックレンジ荷電粒子分析を実行する方法	2025年10月 1日
特許 7742329	荷電粒子顕微鏡で使用するためのサンプル担体、およびそのようなサンプル担体を荷電粒子顕微鏡で使用する方法	2025年 9月19日
特許 7739691	断層撮影画像化装置を使用して標本を調査する方法	2025年 9月17日
特許 7739692	マルチピラーサンプルを撮像するための方法およびシステム	2025年 9月17日
特許 7735622	振動のない極低温冷却	2025年 9月 9日
特許 7736241	時間ゲート検出、デュアルレイヤＳＰＡＤベースの電子検出	2025年 9月 9日
特許 7735462	顕微鏡画像のスマート計測	2025年 9月 8日
特許 7732142	改善された冷却特性を有する極低温サンプルの調製方法	2025年 9月 2日
特許 7732630	複数の試料のより効率的な処理のためのブロードイオンビーム（ＢＩＢ）システム	2025年 9月 2日
特許 7729014	荷電粒子顕微鏡用リエントラント型ガスシステム	2025年 8月26日
特許 7718017	位相差イメージングおよび電子エネルギー損失分光法を同時に行うためのシステムおよび方法	2025年 8月 5日
特許 7711350	低温電子顕微鏡法における温度監視の方法	2025年 7月23日

37 件中 1-15 件を表示

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7789855 7771508 7757600 7747256 7742329 7739691 7739692 7735622 7736241 7735462 7732142 7732630 7729014 7718017 7711350

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