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エフ　イー　アイ　カンパニ

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エフ　イー　アイ　カンパニの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2019-194585	電子顕微鏡におけるＥＥＬＳ検出技術	2019年11月 7日
特開 2019-186197	透過荷電粒子顕微鏡における動的試料の調査法	2019年10月24日
特開 2019-164132	π線最適化を使用するコンピュータ断層撮影投影の幾何学的整合、被検体動き補正および強度正規化	2019年 9月26日
特開 2019-153581	走査透過荷電粒子顕微鏡における識別撮像技術	2019年 9月12日
特開 2019-145499	走査透過荷電粒子顕微鏡におけるインテリジェントプレスキャン	2019年 8月29日
特開 2019-129151	透過荷電粒子顕微鏡検査における革新的撮像方法	2019年 8月 1日
特開 2019-120691	プラズマ集束イオンビームによる生物学的極低温試料の処理のための方法、装置およびシステム	2019年 7月22日
特開 2019-114542	ＴＥＭ薄片作成用のサンプル配向の方法	2019年 7月11日
特開 2019-110120	顕微鏡画像の再構成およびセグメント化のための遠隔深層学習のための方法、装置、およびシステム	2019年 7月 4日
特開 2019-105635	荷電粒子顕微鏡等のための極低温サンプルの改良された調製	2019年 6月27日
特開 2019-102464	改善されたＥＥＬＳ／ＥＦＴＥＭモジュールを有する透過型荷電粒子顕微鏡	2019年 6月24日
特開 2019-96615	調節可能なビームエネルギー広がりを有する透過荷電粒子顕微鏡	2019年 6月20日
特開 2019-35744	透過型荷電粒子顕微鏡における回折パターン検出	2019年 3月 7日
特開 2019-21625	Ｘ線生成のための薄片成形されたターゲット	2019年 2月 7日
特開 2019-16600	荷電粒子ビームに光ビームをアライメントするための方法	2019年 1月31日

15 件中 1-15 件を表示

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2019-194585 2019-186197 2019-164132 2019-153581 2019-145499 2019-129151 2019-120691 2019-114542 2019-110120 2019-105635 2019-102464 2019-96615 2019-35744 2019-21625 2019-16600

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