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エフ　イー　アイ　カンパニ

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　■　2018年特許取得件数ランキング　　　第930位　22件（2017年：第1003位　21件）

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エフ　イー　アイ　カンパニの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2018-190723	荷電粒子顕微鏡のガンレンズ設計	2018年11月29日
特開 2018-190726	荷電粒子顕微鏡法の革新的な画像処理	2018年11月29日
特開 2018-155768	信号に基づく試料の調製	2018年10月 4日
特開 2018-125279	イオンビーム生成のための革新的なソースアセンブリ	2018年 8月 9日
特開 2018-116046	Ｘ線イメージングの統計的分析	2018年 7月26日
特開 2018-88393	飛行時間型荷電粒子分光学	2018年 6月 7日
特開 2018-88402	時間分解された荷電粒子顕微鏡法	2018年 6月 7日
特開 2018-78116	ＴＥＭ内での特徴のない薄膜の位置合わせ	2018年 5月17日
特開 2018-66735	Ｘ線トモグラフィーのための配置	2018年 4月26日
特開 2018-66736	荷電粒子顕微鏡内での低温試料処理	2018年 4月26日
特開 2018-67551	画像蓄積方法及び走査型顕微鏡	2018年 4月26日
特開 2018-49818	トモグラフィック・イメージング方法	2018年 3月29日
特開 2018-29052	プラズマクリーナで使用される磁石	2018年 2月22日
特開 2018-26369	特殊な絞り板を備える荷電粒子顕微鏡	2018年 2月15日
特開 2018-10865	タイコグラフィを用いて試料をイメージングする方法	2018年 1月18日

15 件中 1-15 件を表示

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2018-190723 2018-190726 2018-155768 2018-125279 2018-116046 2018-88393 2018-88402 2018-78116 2018-66735 2018-66736 2018-67551 2018-49818 2018-29052 2018-26369 2018-10865

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