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エフ　イー　アイ　カンパニ

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エフ　イー　アイ　カンパニの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2024-178137	集積回路試験システムにおけるプローブランディングを検出するための技術	2024年12月24日
特開 2024-173817	伸長されたサンプルの三次元断層撮影のための方法	2024年12月12日
特開 2024-163060	測定されたＥＥＬＳスペクトル内のイオン化エッジを確認してイオン化エッジの場所を見つける方法	2024年11月21日
特開 2024-157540	レーザアブレーション再堆積物を低減するための真空チャンバ内制御ガス膜デバイス	2024年11月 7日
特表 2024-540819	顕微鏡システムにおけるデータトリアージ	2024年11月 6日
特開 2024-153680	断層撮影におけるランダムな角度のサンプリングのための回転するサンプルホルダ	2024年10月29日
特開 2024-152691	高いエネルギ損失における電子エネルギ損失分光法のための技術	2024年10月25日
特開 2024-149447	荷電粒子顕微鏡における電子エネルギー損失分光の増大	2024年10月18日
特開 2024-147497	低温電子顕微鏡検査（ＣＲＹＯ－ＥＭ）におけるアデノ随伴ウイルスの分類に基づく教師付き機械学習	2024年10月16日
特開 2024-144365	低温電子顕微鏡用途における試料調製のための刻み目付き試料ホルダ及びスパッタターゲット	2024年10月11日
特開 2024-118455	２つ以上の検出器によって生成された実験データの分析のための深層学習技術	2024年 8月30日
特開 2024-118456	実験データにおける高速異常検出のための深層学習技術	2024年 8月30日
特開 2024-104596	試料の位置決め及び移送のための方法及びシステム	2024年 8月 5日
特開 2024-103470	単色化された荷電粒子源におけるゼロロスピークを狭めるための技術	2024年 8月 1日
特開 2024-96076	顕微鏡用改良型検出器	2024年 7月11日

40 件中 1-15 件を表示

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2024-178137 2024-173817 2024-163060 2024-157540 2024-540819 2024-153680 2024-152691 2024-149447 2024-147497 2024-144365 2024-118455 2024-118456 2024-104596 2024-103470 2024-96076

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