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エフ　イー　アイ　カンパニ

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　■　2015年出願公開件数ランキング　　　第1576位　15件（2014年：　0件）

　■　2015年特許取得件数ランキング　　　第1215位　16件（2014年：　0件）

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エフ　イー　アイ　カンパニの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2015-184280	複数のビーム及び複数の検出器による試料の撮像	2015年10月22日
特開 2015-159112	荷電粒子顕微鏡内で試料を検査する方法	2015年 9月 3日
特開 2015-141899	補正光学及び荷電粒子顕微鏡	2015年 8月 3日
特開 2015-122325	プラズマ生成方法及びプラズマ源	2015年 7月 2日
特開 2015-118940	荷電粒子ビームの波面を調査する方法	2015年 6月25日
特開 2015-107913	ナノ結晶カーボン自立薄膜の製造方法	2015年 6月11日
特開 2015-106565	電子検出が改善された荷電粒子顕微鏡	2015年 6月 8日
特開 2015-99778	透過型電子顕微鏡用位相板	2015年 5月28日
特開 2015-99789	集束イオンビームカラムを制御する方法及びデュアルビームシステム	2015年 5月28日
特開 2015-68832	荷電粒子顕微鏡用の極低温試料の調製	2015年 4月13日
特開 2015-38509	加工終点検出方法	2015年 2月26日
特開 2015-37079	環境制御型透過電子顕微鏡の使用方法	2015年 2月23日
特開 2015-23030	荷電粒子ビームを集束させる磁気レンズ	2015年 2月 2日
特開 2015-17976	ラマン分光機能を有する荷電粒子顕微鏡	2015年 1月29日
特開 2015-1530	凍結含水試料をマイクロプローブへ結合する方法	2015年 1月 5日

15 件中 1-15 件を表示

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2015-184280 2015-159112 2015-141899 2015-122325 2015-118940 2015-107913 2015-106565 2015-99778 2015-99789 2015-68832 2015-38509 2015-37079 2015-23030 2015-17976 2015-1530

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