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エフ　イー　アイ　カンパニ

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　■　2017年出願公開件数ランキング　　　第1600位　14件（2016年：第1407位　17件）

　■　2017年特許取得件数ランキング　　　第1003位　21件（2016年：第731位　33件）

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エフ　イー　アイ　カンパニの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2017-212194	現位置堆積機能を備える荷電粒子顕微鏡	2017年11月30日
特開 2017-198657	荷電粒子顕微鏡における３次元イメージング	2017年11月 2日
特開 2017-152366	荷電粒子顕微鏡における動的試料挙動の調査	2017年 8月31日
特開 2017-139210	非点収差補償及びエネルギー選択を備える荷電粒子顕微鏡	2017年 8月10日
特開 2017-135096	ナノリアクタおよび電子顕微鏡と協働するホルダ組立体	2017年 8月 3日
特開 2017-123320	気圧補正を行う荷電粒子顕微鏡	2017年 7月13日
特開 2017-106895	荷電粒子顕微鏡用の極低温サンプルの調製	2017年 6月15日
特開 2017-96923	新たなＸ線撮像技法	2017年 6月 1日
特開 2017-90460	粒子放射を検出するための方法	2017年 5月25日
特開 2017-92025	増強されたエネルギーレンジを有するポストカラムフィルタ	2017年 5月25日
特開 2017-78855	定在波干渉顕微鏡	2017年 4月27日
特開 2017-32551	試料物質を検査するためのマイクロチャンバ	2017年 2月 9日
特開 2017-9603	タイコグラフィックイメージングの方法	2017年 1月12日
特開 2017-4948	荷電粒子顕微鏡において、試料の表面修正を分析する方法	2017年 1月 5日

14 件中 1-14 件を表示

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2017-212194 2017-198657 2017-152366 2017-139210 2017-135096 2017-123320 2017-106895 2017-96923 2017-90460 2017-92025 2017-78855 2017-32551 2017-9603 2017-4948

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