特許ランキング - 出願人詳細情報 -

エフ　イー　アイ　カンパニ

※ ログインすれば出願人(エフ　イー　アイ　カンパニ)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2017年出願公開件数ランキング　　　第1793位　14件（2016年：第1441位　17件）

　■　2017年特許取得件数ランキング　　　第1003位　21件（2016年：第732位　33件）

（ランキング更新日：2024年11月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年

エフ　イー　アイ　カンパニの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2017-212194	現位置堆積機能を備える荷電粒子顕微鏡	2017年11月30日
特開 2017-198657	荷電粒子顕微鏡における３次元イメージング	2017年11月 2日
特開 2017-152366	荷電粒子顕微鏡における動的試料挙動の調査	2017年 8月31日
特開 2017-139210	非点収差補償及びエネルギー選択を備える荷電粒子顕微鏡	2017年 8月10日
特開 2017-135096	ナノリアクタおよび電子顕微鏡と協働するホルダ組立体	2017年 8月 3日
特開 2017-123320	気圧補正を行う荷電粒子顕微鏡	2017年 7月13日
特開 2017-106895	荷電粒子顕微鏡用の極低温サンプルの調製	2017年 6月15日
特開 2017-96923	新たなＸ線撮像技法	2017年 6月 1日
特開 2017-90460	粒子放射を検出するための方法	2017年 5月25日
特開 2017-92025	増強されたエネルギーレンジを有するポストカラムフィルタ	2017年 5月25日
特開 2017-78855	定在波干渉顕微鏡	2017年 4月27日
特開 2017-32551	試料物質を検査するためのマイクロチャンバ	2017年 2月 9日
特開 2017-9603	タイコグラフィックイメージングの方法	2017年 1月12日
特開 2017-4948	荷電粒子顕微鏡において、試料の表面修正を分析する方法	2017年 1月 5日

14 件中 1-14 件を表示

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

2017-212194 2017-198657 2017-152366 2017-139210 2017-135096 2017-123320 2017-106895 2017-96923 2017-90460 2017-92025 2017-78855 2017-32551 2017-9603 2017-4948

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。エフ　イー　アイ　カンパニの知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2012年特許出願件数	2012年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数