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エフ　イー　アイ　カンパニ

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エフ　イー　アイ　カンパニの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2016-206182	荷電粒子機器の真空チャンバ内でサンプルを操作する方法	2016年12月 8日
特開 2016-207651	荷電粒子顕微鏡によるトモグラフィックイメージングを実行する方法	2016年12月 8日
特開 2016-161574	パルス処理	2016年 9月 5日
特開 2016-156092	粒子光学機器のマルチソースＧＩＳ	2016年 9月 1日
特開 2016-156823	荷電粒子顕微鏡用のサンプルの調製	2016年 9月 1日
特開 2016-130733	顕微鏡サンプルからサンプル表面層を改変する方法	2016年 7月21日
特開 2016-96140	荷電粒子顕微鏡における非接触温度測定	2016年 5月26日
特開 2016-96142	気圧補正を行う荷電粒子顕微鏡	2016年 5月26日
特開 2016-85966	荷電粒子顕微鏡における複合走査経路	2016年 5月19日
特開 2016-81929	特殊な絞り板を備える荷電粒子顕微鏡	2016年 5月16日
特開 2016-76489	ＴＥＭ内での特徴のない薄膜の位置合わせ	2016年 5月12日
特開 2016-57294	透過型荷電粒子顕微鏡内で分光を実行する方法	2016年 4月21日
特開 2016-45206	ＥＢＳＰパターンの取得方法	2016年 4月 4日
特開 2016-46529	改良された放射線センサ及び当該改良された放射線センサの荷電粒子顕微鏡内での応用	2016年 4月 4日
特開 2016-17966	走査型透過荷電粒子顕微鏡の校正方法	2016年 2月 1日

17 件中 1-15 件を表示

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2016-206182 2016-207651 2016-161574 2016-156092 2016-156823 2016-130733 2016-96140 2016-96142 2016-85966 2016-81929 2016-76489 2016-57294 2016-45206 2016-46529 2016-17966

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