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エフ　イー　アイ　カンパニ

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エフ　イー　アイ　カンパニの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2021-197368	サンプル処理中に画像化するためのデュアルビーム顕微鏡システム	2021年12月27日
特開 2021-184384	軸方向位置合わせ組立体、およびそのような位置合わせ組立体を備えた荷電粒子顕微鏡	2021年12月 2日
特開 2021-174544	データ処理装置によって実施される方法、およびそのような方法で試料を検査するための荷電粒子ビームデバイス	2021年11月 1日
特開 2021-168292	断層撮影におけるランダムな角度のサンプリングのための回転するサンプルホルダ	2021年10月21日
特開 2021-162589	低温電子顕微鏡法における温度監視の方法	2021年10月11日
特開 2021-162590	電子エネルギー損失分光検出器を備えた透過型荷電粒子顕微鏡	2021年10月11日
特開 2021-163753	３Ｄ回折データを取得するための方法およびシステム	2021年10月11日
特開 2021-163754	デュアルビーム二焦点荷電粒子顕微鏡	2021年10月11日
特開 2021-163755	電子回折ホログラフィ	2021年10月11日
特開 2021-163756	同時ＳＴＥＭおよびＴＥＭ顕微鏡	2021年10月11日
特開 2021-153051	荷電粒子ビーム源	2021年 9月30日
特開 2021-150287	複数の荷電粒子ビームレットで試料を検査するための荷電粒子ビーム装置	2021年 9月27日
特開 2021-150288	プラズマ支援低真空荷電粒子顕微鏡法のための方法およびシステム	2021年 9月27日
特開 2021-139911	新たなＸ線撮像技法	2021年 9月16日
特開 2021-131388	荷電粒子顕微鏡で使用されるサンプルの特性を判定するためのデバイスおよび方法	2021年 9月 9日

36 件中 1-15 件を表示

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2021-197368 2021-184384 2021-174544 2021-168292 2021-162589 2021-162590 2021-163753 2021-163754 2021-163755 2021-163756 2021-153051 2021-150287 2021-150288 2021-139911 2021-131388

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