特許ランキング - 出願人詳細情報 -

エフ　イー　アイ　カンパニ

※ ログインすれば出願人(エフ　イー　アイ　カンパニ)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2020年出願公開件数ランキング　　　第1011位　26件（2019年：第1618位　15件）

　■　2020年特許取得件数ランキング　　　第1945位　8件（2019年：第3977位　3件）

（ランキング更新日：2024年11月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2021年 2022年 2023年 2024年

エフ　イー　アイ　カンパニの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2020-204613	電子エネルギー損失分光（ＥＥＬＳ）スペクトルを取得する、サンプルを荷電粒子顕微鏡を使用して検査する方法	2020年12月24日
特開 2020-194774	荷電粒子顕微鏡を使用してサンプルを検査する方法	2020年12月 3日
特開 2020-191283	マルチビーム走査型電子顕微鏡	2020年11月26日
特開 2020-188003	レーザベースの位相板画像コントラスト操作	2020年11月19日
特開 2020-184333	ニューラルネットワークベースの画像復元のための取得戦略	2020年11月12日
特開 2020-184538	荷電粒子顕微鏡を使用してサンプルを検査する方法	2020年11月12日
特開 2020-184539	荷電粒子顕微鏡を使用したサンプル検査方法	2020年11月12日
特開 2020-170702	二次顕微鏡検出器からの画像を使用した一次顕微鏡検出器からのラベル付き画像の自動生成	2020年10月15日
特開 2020-166848	人工知能対応ボリューム再構築	2020年10月 8日
特開 2020-167159	複数の荷電粒子ビームレットで試料を検査するための荷電粒子ビーム装置	2020年10月 8日
特開 2020-139945	オンザフライ単一粒子再構成のための畳み込みニューラルネットワークの使用	2020年 9月 3日
特開 2020-140960	複数の荷電粒子ビームレットで試料を検査するための荷電粒子ビーム装置	2020年 9月 3日
特開 2020-140961	マルチビーム走査透過荷電粒子顕微鏡	2020年 9月 3日
特開 2020-136263	２つのデバイス間でサンプルを移送するための搬送装置および方法、ならびにサンプル操作のためのシステム	2020年 8月31日
特開 2020-136275	荷電粒子顕微鏡用の試料ホルダー	2020年 8月31日

26 件中 1-15 件を表示

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

2020-204613 2020-194774 2020-191283 2020-188003 2020-184333 2020-184538 2020-184539 2020-170702 2020-166848 2020-167159 2020-139945 2020-140960 2020-140961 2020-136263 2020-136275

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。エフ　イー　アイ　カンパニの知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2012年特許出願件数	2012年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数