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エフ イー アイ カンパニ
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■ 2020年 出願公開件数ランキング 第1011位 26件
（
2019年：第1618位 15件）
■ 2020年 特許取得件数ランキング 第1945位 8件
（2019年：第3977位 3件）
（ランキング更新日：2025年5月9日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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エフ イー アイ カンパニの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2020-204613 | 電子エネルギー損失分光（ＥＥＬＳ）スペクトルを取得する、サンプルを荷電粒子顕微鏡を使用して検査する方法 | 2020年12月24日 | |
| 特開 2020-194774 | 荷電粒子顕微鏡を使用してサンプルを検査する方法 | 2020年12月 3日 | |
| 特開 2020-191283 | マルチビーム走査型電子顕微鏡 | 2020年11月26日 | |
| 特開 2020-188003 | レーザベースの位相板画像コントラスト操作 | 2020年11月19日 | |
| 特開 2020-184333 | ニューラルネットワークベースの画像復元のための取得戦略 | 2020年11月12日 | |
| 特開 2020-184538 | 荷電粒子顕微鏡を使用してサンプルを検査する方法 | 2020年11月12日 | |
| 特開 2020-184539 | 荷電粒子顕微鏡を使用したサンプル検査方法 | 2020年11月12日 | |
| 特開 2020-170702 | 二次顕微鏡検出器からの画像を使用した一次顕微鏡検出器からのラベル付き画像の自動生成 | 2020年10月15日 | |
| 特開 2020-166848 | 人工知能対応ボリューム再構築 | 2020年10月 8日 | |
| 特開 2020-167159 | 複数の荷電粒子ビームレットで試料を検査するための荷電粒子ビーム装置 | 2020年10月 8日 | |
| 特開 2020-139945 | オンザフライ単一粒子再構成のための畳み込みニューラルネットワークの使用 | 2020年 9月 3日 | |
| 特開 2020-140960 | 複数の荷電粒子ビームレットで試料を検査するための荷電粒子ビーム装置 | 2020年 9月 3日 | |
| 特開 2020-140961 | マルチビーム走査透過荷電粒子顕微鏡 | 2020年 9月 3日 | |
| 特開 2020-136263 | ２つのデバイス間でサンプルを移送するための搬送装置および方法、ならびにサンプル操作のためのシステム | 2020年 8月31日 | |
| 特開 2020-136275 | 荷電粒子顕微鏡用の試料ホルダー | 2020年 8月31日 |
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2020-204613 2020-194774 2020-191283 2020-188003 2020-184333 2020-184538 2020-184539 2020-170702 2020-166848 2020-167159 2020-139945 2020-140960 2020-140961 2020-136263 2020-136275
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