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エフ　イー　アイ　カンパニ

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　■　2020年出願公開件数ランキング　　　第1011位　26件（2019年：第1618位　15件）

　■　2020年特許取得件数ランキング　　　第1945位　8件（2019年：第3977位　3件）

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エフ　イー　アイ　カンパニの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2020-204613	電子エネルギー損失分光（ＥＥＬＳ）スペクトルを取得する、サンプルを荷電粒子顕微鏡を使用して検査する方法	2020年12月24日
特開 2020-194774	荷電粒子顕微鏡を使用してサンプルを検査する方法	2020年12月 3日
特開 2020-191283	マルチビーム走査型電子顕微鏡	2020年11月26日
特開 2020-188003	レーザベースの位相板画像コントラスト操作	2020年11月19日
特開 2020-184333	ニューラルネットワークベースの画像復元のための取得戦略	2020年11月12日
特開 2020-184538	荷電粒子顕微鏡を使用してサンプルを検査する方法	2020年11月12日
特開 2020-184539	荷電粒子顕微鏡を使用したサンプル検査方法	2020年11月12日
特開 2020-170702	二次顕微鏡検出器からの画像を使用した一次顕微鏡検出器からのラベル付き画像の自動生成	2020年10月15日
特開 2020-166848	人工知能対応ボリューム再構築	2020年10月 8日
特開 2020-167159	複数の荷電粒子ビームレットで試料を検査するための荷電粒子ビーム装置	2020年10月 8日
特開 2020-139945	オンザフライ単一粒子再構成のための畳み込みニューラルネットワークの使用	2020年 9月 3日
特開 2020-140960	複数の荷電粒子ビームレットで試料を検査するための荷電粒子ビーム装置	2020年 9月 3日
特開 2020-140961	マルチビーム走査透過荷電粒子顕微鏡	2020年 9月 3日
特開 2020-136263	２つのデバイス間でサンプルを移送するための搬送装置および方法、ならびにサンプル操作のためのシステム	2020年 8月31日
特開 2020-136275	荷電粒子顕微鏡用の試料ホルダー	2020年 8月31日

26 件中 1-15 件を表示

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2020-204613 2020-194774 2020-191283 2020-188003 2020-184333 2020-184538 2020-184539 2020-170702 2020-166848 2020-167159 2020-139945 2020-140960 2020-140961 2020-136263 2020-136275

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