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エフ イー アイ カンパニ
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■ 2023年 出願公開件数ランキング 第628位 47件
（
2022年：第830位 32件）
■ 2023年 特許取得件数ランキング 第1177位 18件
（
2022年：第1135位 19件）
（ランキング更新日：2026年5月13日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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エフ イー アイ カンパニの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2023-184487 | 液体金属イオンソースの仮想ソースの場所を判定するための方法 | 2023年12月28日 | |
| 特開 2023-178348 | 荷電粒子ビーム源 | 2023年12月14日 | |
| 特開 2023-171342 | ブロードイオンビーム（ＢＩＢ）システムを用いた複数の試料のより効率的な処理のために試料を事前に位置合わせするためのシステム及び方法 | 2023年12月 1日 | |
| 特開 2023-171343 | ＢＩＢシステムにおける複数の試料の自動処理のためのシステム及び方法 | 2023年12月 1日 | |
| 特開 2023-171344 | 複数の試料のより効率的な処理のためのレーザ及びブロードイオンビーム（ＢＩＢ）を組み合わせたシステム | 2023年12月 1日 | |
| 特開 2023-171346 | 複数の試料のより効率的な処理のためのブロードイオンビーム（ＢＩＢ）システム | 2023年12月 1日 | |
| 特開 2023-168310 | 容器蓋 | 2023年11月24日 | |
| 特開 2023-164400 | 方法及び走査型透過荷電粒子顕微鏡 | 2023年11月10日 | |
| 特開 2023-161580 | 水素及び複数種の集束イオンビームを使用した粒子誘起Ｘ線放出（ＰＩＸＥ） | 2023年11月 7日 | |
| 特開 2023-157895 | 顕微鏡検査システムにおける干渉補償 | 2023年10月26日 | |
| 特開 2023-152971 | マルチビームシステムを位置合わせするための方法及びシステム | 2023年10月17日 | |
| 特開 2023-138935 | 透過電子顕微鏡などの荷電粒子装置における研究のために試料を取り扱うためのシステム及び方法 | 2023年10月 3日 | |
| 特開 2023-126181 | 荷電粒子ビーム顕微鏡法における光学収差の測定及び補正 | 2023年 9月 7日 | |
| 特開 2023-116463 | ニューラルネットワークベースの画像復元のための取得戦略 | 2023年 8月22日 | |
| 特開 2023-111892 | ビームシステムのための不活性ガス試料移送 | 2023年 8月10日 |
47 件中 1-15 件を表示
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2023-184487 2023-178348 2023-171342 2023-171343 2023-171344 2023-171346 2023-168310 2023-164400 2023-161580 2023-157895 2023-152971 2023-138935 2023-126181 2023-116463 2023-111892
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