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エフ　イー　アイ　カンパニ

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エフ　イー　アイ　カンパニの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2023-184487	液体金属イオンソースの仮想ソースの場所を判定するための方法	2023年12月28日
特開 2023-178348	荷電粒子ビーム源	2023年12月14日
特開 2023-171346	複数の試料のより効率的な処理のためのブロードイオンビーム（ＢＩＢ）システム	2023年12月 1日
特開 2023-171344	複数の試料のより効率的な処理のためのレーザ及びブロードイオンビーム（ＢＩＢ）を組み合わせたシステム	2023年12月 1日
特開 2023-171343	ＢＩＢシステムにおける複数の試料の自動処理のためのシステム及び方法	2023年12月 1日
特開 2023-171342	ブロードイオンビーム（ＢＩＢ）システムを用いた複数の試料のより効率的な処理のために試料を事前に位置合わせするためのシステム及び方法	2023年12月 1日
特開 2023-168310	容器蓋	2023年11月24日
特開 2023-164400	方法及び走査型透過荷電粒子顕微鏡	2023年11月10日
特開 2023-161580	水素及び複数種の集束イオンビームを使用した粒子誘起Ｘ線放出（ＰＩＸＥ）	2023年11月 7日
特開 2023-157895	顕微鏡検査システムにおける干渉補償	2023年10月26日
特開 2023-152971	マルチビームシステムを位置合わせするための方法及びシステム	2023年10月17日
特開 2023-138935	透過電子顕微鏡などの荷電粒子装置における研究のために試料を取り扱うためのシステム及び方法	2023年10月 3日
特開 2023-126181	荷電粒子ビーム顕微鏡法における光学収差の測定及び補正	2023年 9月 7日
特開 2023-116463	ニューラルネットワークベースの画像復元のための取得戦略	2023年 8月22日
特開 2023-111892	ビームシステムのための不活性ガス試料移送	2023年 8月10日

47 件中 1-15 件を表示

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2023-184487 2023-178348 2023-171346 2023-171344 2023-171343 2023-171342 2023-168310 2023-164400 2023-161580 2023-157895 2023-152971 2023-138935 2023-126181 2023-116463 2023-111892

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