ホーム > 特許ランキング > エフ イー アイ カンパニ > 2020年 > 出願公開一覧
※ ログインすれば出願人(エフ イー アイ カンパニ)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2020年 出願公開件数ランキング 第1011位 26件 (2019年:第1618位 15件)
■ 2020年 特許取得件数ランキング 第1945位 8件 (2019年:第3977位 3件)
(ランキング更新日:2024年11月13日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2021年 2022年 2023年 2024年
公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2020-95691 | 顕微鏡画像のスマート計測 | 2020年 6月18日 | |
特開 2020-87929 | 電子顕微鏡を使用して試料を画像化する方法 | 2020年 6月 4日 | |
特開 2020-80309 | 試料を検査するための荷電粒子顕微鏡、およびこの荷電粒子顕微鏡の収差を決定する方法 | 2020年 5月28日 | |
特開 2020-73867 | 真空伝導率を改善するためのX線および粒子遮蔽体 | 2020年 5月14日 | |
特開 2020-71227 | 荷電粒子装置で調査するための生体試料を調製する方法 | 2020年 5月 7日 | |
特開 2020-57391 | 画像セグメント化を使用した物体追跡 | 2020年 4月 9日 | |
特開 2020-57604 | 複数のリフトアウト針を含むチップ、マイクロマニピュレータ及びマイクロマニピュレータを調製するためのシステム | 2020年 4月 9日 | |
特開 2020-47589 | 性能が向上されたマルチ電子ビーム撮像装置 | 2020年 3月26日 | |
特開 2020-30208 | 荷電粒子顕微鏡を使用してサンプルを検査する方法 | 2020年 2月27日 | |
特開 2020-9765 | 撮像分解能を向上させた電子顕微鏡 | 2020年 1月16日 | |
特開 2020-4711 | マルチビーム荷電粒子撮像装置 | 2020年 1月 9日 |
26 件中 16-26 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
2020-95691 2020-87929 2020-80309 2020-73867 2020-71227 2020-57391 2020-57604 2020-47589 2020-30208 2020-9765 2020-4711
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。エフ イー アイ カンパニの知財の動向チェックに便利です。
11月13日(水) - 東京 港区
11月13日(水) - 福井 福井市
11月13日(水) -
11月13日(水) -
11月13日(水) -
11月13日(水) -
11月14日(木) - 東京 港区
11月14日(木) - 愛知 名古屋市
11月14日(木) - 東京 中央区
11月15日(金) - 東京 港区
11月15日(金) -
11月15日(金) - 東京 港区
11月15日(金) -
11月15日(金) -
11月16日(土) - 東京 中央区
11月13日(水) - 東京 港区
11月18日(月) -
11月19日(火) -
11月19日(火) - 東京 港区
11月19日(火) - 大阪 大阪市
11月19日(火) -
11月20日(水) -
11月20日(水) -
11月20日(水) -
11月20日(水) -
11月20日(水) -
11月21日(木) - 東京 港区
11月21日(木) - 愛知 名古屋市
11月21日(木) -
11月21日(木) -
11月22日(金) -
11月22日(金) - 東京 千代田区
11月22日(金) - 東京 港区
11月22日(金) -
11月22日(金) - 大阪 大阪市
11月22日(金) -
11月18日(月) -
東京都品川区東品川2丁目2番24号 天王洲セントラルタワー 22階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
神奈川県横浜市港北区日吉本町1-4-5パレスMR201号 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒102-0072 東京都千代田区飯田橋4-1-1 飯田橋ISビル8階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング