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エフ イー アイ カンパニ
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■ 2020年 出願公開件数ランキング 第1011位 26件
（
2019年：第1618位 15件）
■ 2020年 特許取得件数ランキング 第1945位 8件
（2019年：第3977位 3件）
（ランキング更新日：2024年11月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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エフ イー アイ カンパニの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2020-95691 | 顕微鏡画像のスマート計測 | 2020年 6月18日 | |
| 特開 2020-87929 | 電子顕微鏡を使用して試料を画像化する方法 | 2020年 6月 4日 | |
| 特開 2020-80309 | 試料を検査するための荷電粒子顕微鏡、およびこの荷電粒子顕微鏡の収差を決定する方法 | 2020年 5月28日 | |
| 特開 2020-73867 | 真空伝導率を改善するためのＸ線および粒子遮蔽体 | 2020年 5月14日 | |
| 特開 2020-71227 | 荷電粒子装置で調査するための生体試料を調製する方法 | 2020年 5月 7日 | |
| 特開 2020-57391 | 画像セグメント化を使用した物体追跡 | 2020年 4月 9日 | |
| 特開 2020-57604 | 複数のリフトアウト針を含むチップ、マイクロマニピュレータ及びマイクロマニピュレータを調製するためのシステム | 2020年 4月 9日 | |
| 特開 2020-47589 | 性能が向上されたマルチ電子ビーム撮像装置 | 2020年 3月26日 | |
| 特開 2020-30208 | 荷電粒子顕微鏡を使用してサンプルを検査する方法 | 2020年 2月27日 | |
| 特開 2020-9765 | 撮像分解能を向上させた電子顕微鏡 | 2020年 1月16日 | |
| 特開 2020-4711 | マルチビーム荷電粒子撮像装置 | 2020年 1月 9日 |
26 件中 16-26 件を表示
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2020-95691 2020-87929 2020-80309 2020-73867 2020-71227 2020-57391 2020-57604 2020-47589 2020-30208 2020-9765 2020-4711
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