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エフ イー アイ カンパニ

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  2020年 出願公開件数ランキング    第1011位 26件 上昇2019年:第1618位 15件)

  2020年 特許取得件数ランキング    第1945位 8件 上昇2019年:第3977位 3件)

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特開 2020-95691 顕微鏡画像のスマート計測 2020年 6月18日
特開 2020-87929 電子顕微鏡を使用して試料を画像化する方法 2020年 6月 4日
特開 2020-80309 試料を検査するための荷電粒子顕微鏡、およびこの荷電粒子顕微鏡の収差を決定する方法 2020年 5月28日
特開 2020-73867 真空伝導率を改善するためのX線および粒子遮蔽体 2020年 5月14日
特開 2020-71227 荷電粒子装置で調査するための生体試料を調製する方法 2020年 5月 7日
特開 2020-57391 画像セグメント化を使用した物体追跡 2020年 4月 9日
特開 2020-57604 複数のリフトアウト針を含むチップ、マイクロマニピュレータ及びマイクロマニピュレータを調製するためのシステム 2020年 4月 9日
特開 2020-47589 性能が向上されたマルチ電子ビーム撮像装置 2020年 3月26日
特開 2020-30208 荷電粒子顕微鏡を使用してサンプルを検査する方法 2020年 2月27日
特開 2020-9765 撮像分解能を向上させた電子顕微鏡 2020年 1月16日
特開 2020-4711 マルチビーム荷電粒子撮像装置 2020年 1月 9日

26 件中 16-26 件を表示

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2020-95691 2020-87929 2020-80309 2020-73867 2020-71227 2020-57391 2020-57604 2020-47589 2020-30208 2020-9765 2020-4711

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