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日本電子株式会社

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  2013年 出願公開件数ランキング    第742位 45件 下降2012年:第544位 64件)

  2013年 特許取得件数ランキング    第494位 71件 下降2012年:第485位 70件)

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公報番号発明の名称公報発行日備考
特許 5373368 電子線を用いるX線分析装置 2013年12月18日
特許 5373463 透過型電子顕微鏡の自動最適合焦点調整装置 2013年12月18日
特許 5373329 荷電粒子ビーム描画装置 2013年12月18日
特許 5373297 2次電子・反射電子検出装置及び2次電子・反射電子検出装置を有する走査電子顕微鏡 2013年12月18日
特許 5362423 試料検査方法及び試料検査装置 2013年12月11日
特許 5367628 荷電粒子線装置 2013年12月11日
特許 5351606 生化学自動分析装置 2013年11月27日
特許 5351634 電子線装置 2013年11月27日
特許 5341025 走査電子顕微鏡 2013年11月13日
特許 5341016 飛行時間型質量分析装置及び飛行時間型質量分析装置のキャリブレーション方法 2013年11月13日
特許 5329368 プローブ振動制御装置 2013年10月30日
特許 5329380 モノクロメータのスリット位置制御方法及び装置並びに分析電子顕微鏡 2013年10月30日
特許 5324270 電子線装置 2013年10月23日
特許 5314603 飛行時間型質量分析装置 2013年10月16日
特許 5318364 試料保持体、試料検査装置及び試料検査方法、並びに試料保持体の製造方法 2013年10月16日

71 件中 1-15 件を表示

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5373368 5373463 5373329 5373297 5362423 5367628 5351606 5351634 5341025 5341016 5329368 5329380 5324270 5314603 5318364

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