特許ランキング - 出願人詳細情報 -

エーエスエムエル　ネザーランズ　ビー．ブイ．

※ ログインすれば出願人(エーエスエムエル　ネザーランズ　ビー．ブイ．)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2023年出願公開件数ランキング　　　第242位　151件（2022年：第222位　169件）

　■　2023年特許取得件数ランキング　　　第238位　146件（2022年：第259位　122件）

（ランキング更新日：2024年11月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2024年

エーエスエムエル　ネザーランズ　ビー．ブイ．の商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特表 2023-523420	ＥＵＶリソグラフィのためのペリクルフレーム	2023年 6月 5日
特開 2023-76573	複数の荷電粒子ビームのための装置	2023年 6月 1日
特表 2023-522919	システム、リソグラフィ装置および方法	2023年 6月 1日
特表 2023-522924	光学測定システムおよび光学測定システムのキャリブレーションのための方法	2023年 6月 1日
特開 2023-75123	アライメント方法及び装置	2023年 5月30日
特開 2023-73317	粒子ビーム検査装置	2023年 5月25日
特開 2023-71662	サポートテーブルから物体をアンロードする方法	2023年 5月23日
特表 2023-520629	差動測定システム	2023年 5月18日
特表 2023-520336	複数の検出器を備えた荷電粒子ビーム装置及び撮像方法	2023年 5月17日
特開 2023-65369	荷電粒子ビームを集束させるためのシステム及び方法	2023年 5月12日
特表 2023-519542	アパーチャアセンブリ、ビームマニピュレータユニット、荷電粒子ビームを操作する方法、及び荷電粒子投影装置	2023年 5月11日
特表 2023-519553	荷電粒子ビーム検査における電荷蓄積低減に基づく画像向上	2023年 5月11日
特表 2023-519566	荷電粒子評価ツール、検査方法	2023年 5月11日
特表 2023-519119	オブジェクトホルダ、ツール、及びオブジェクトホルダの製造方法	2023年 5月10日
特開 2023-63390	電磁複合レンズ及びそのようなレンズを備えた荷電粒子光学システム	2023年 5月 9日

157 件中 91-105 件を表示

... 7

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

2023-523420 2023-76573 2023-522919 2023-522924 2023-75123 2023-73317 2023-71662 2023-520629 2023-520336 2023-65369 2023-519542 2023-519553 2023-519566 2023-519119 2023-63390

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。エーエスエムエル　ネザーランズ　ビー．ブイ．の知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2012年特許出願件数	2012年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数