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エーエスエムエル　ネザーランズ　ビー．ブイ．

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　■　2020年出願公開件数ランキング　　　第286位　138件（2019年：第272位　151件）

　■　2020年特許取得件数ランキング　　　第237位　122件（2019年：第255位　108件）

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エーエスエムエル　ネザーランズ　ビー．ブイ．の商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特表 2020-537331	リソグラフィ装置において使用される基板ホルダ	2020年12月17日
特開 2020-202180	荷電粒子源モジュール	2020年12月17日
特表 2020-536249	基板上の１つ又は複数の構造の特性を決定するためのメトロロジシステムおよび方法	2020年12月10日
特表 2020-536347	荷電粒子ビームを用いた装置	2020年12月10日
特表 2020-536350	干渉計ステージ位置決めデバイス	2020年12月10日
特開 2020-197731	リソグラフィ装置及びリソグラフィ装置の動作方法	2020年12月10日
特開 2020-197750	リソグラフィ装置のための流体ハンドリング構造	2020年12月10日
特表 2020-535458	放射源	2020年12月 3日
特表 2020-535479	デバイス製造方法の制御パラメータを決定する方法、本方法を実行するよう構成される非一時的コンピュータ可読媒体およびシステム	2020年12月 3日
特表 2020-535484	リソグラフィ方法	2020年12月 3日
特表 2020-535583	サンプル検査における画像コントラスト強調	2020年12月 3日
特表 2020-535584	後方散乱粒子による埋め込みフィーチャの検出	2020年12月 3日
特表 2020-535585	荷電粒子のビーム状態を調節するための方法及び装置	2020年12月 3日
特表 2020-535586	荷電粒子のためのマルチセル検出器	2020年12月 3日
特表 2020-535587	荷電粒子ビーム検査のためのサンプルの予備帯電方法及び装置	2020年12月 3日

140 件中 1-15 件を表示

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2020-537331 2020-202180 2020-536249 2020-536347 2020-536350 2020-197731 2020-197750 2020-535458 2020-535479 2020-535484 2020-535583 2020-535584 2020-535585 2020-535586 2020-535587

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