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■ 2019年 出願公開件数ランキング 第272位 151件 (2018年:第314位 124件)
■ 2019年 特許取得件数ランキング 第255位 108件 (2018年:第281位 102件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特表 2019-536995 | 検査装置用の照明源、検査装置、及び検査方法 | 2019年12月19日 | |
特表 2019-537045 | 可変幅レーザパルスを使用したドーズ量制御及びレーザ安定化を伴うEUV LPP源 | 2019年12月19日 | |
特表 2019-537237 | メトロロジレシピ選択 | 2019年12月19日 | |
特表 2019-537272 | エッチングパラメータを変更する方法 | 2019年12月19日 | |
特開 2019-216105 | レーザ作動光源 | 2019年12月19日 | |
特表 2019-536071 | 光学システムにおける物理的効果の補償 | 2019年12月12日 | |
特表 2019-536076 | 放射分析システム | 2019年12月12日 | |
特表 2019-536096 | スタック差を使用した設計及び補正 | 2019年12月12日 | |
特表 2019-535102 | 電子ビーム伝送システム | 2019年12月 5日 | |
特表 2019-535123 | 半導体製造歩留まりを向上させるための方法 | 2019年12月 5日 | |
特表 2019-535125 | 波長ベースの光フィルタリング | 2019年12月 5日 | |
特開 2019-207423 | レーザ生成プラズマ極端紫外線光源のターゲット | 2019年12月 5日 | |
特表 2019-534474 | 高さセンサ、リソグラフィ装置、及びデバイスを製造するための方法 | 2019年11月28日 | |
特表 2019-534479 | リソグラフィプロセスのパラメータを測定する方法及び装置、そのような方法及び装置を実施するためのコンピュータプログラム製品 | 2019年11月28日 | |
特開 2019-204132 | リソグラフィ装置内で用いられる膜及びそのような膜を含むリソグラフィ装置 | 2019年11月28日 |
157 件中 1-15 件を表示
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2019-536995 2019-537045 2019-537237 2019-537272 2019-216105 2019-536071 2019-536076 2019-536096 2019-535102 2019-535123 2019-535125 2019-207423 2019-534474 2019-534479 2019-204132
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11月22日(金) -
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11月22日(金) - 東京 港区
11月22日(金) -
11月22日(金) - 大阪 大阪市
11月22日(金) -
11月22日(金) -
11月25日(月) -
11月25日(月) - 岐阜 各務原市
11月26日(火) -
11月26日(火) - 東京 港区
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月27日(水) - 東京 港区
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月28日(木) - 東京 港区
11月28日(木) - 島根 松江市
11月28日(木) - 京都 京都市
11月28日(木) -
11月28日(木) - 大阪 大阪市
11月28日(木) -
11月29日(金) - 東京 港区
11月29日(金) - 茨城 ひたちなか市
11月30日(土) -
12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月25日(月) -
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