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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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  2015年 出願公開件数ランキング    第107位 423件 下降2014年:第59位 659件)

  2015年 特許取得件数ランキング    第95位 287件 下降2014年:第54位 625件)

(ランキング更新日:2021年8月2日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特開 2015-210140 計測システムおよび計測方法 2015年11月24日
特開 2015-210200 検査装置 2015年11月24日
特開 2015-210903 荷電粒子線装置 2015年11月24日
特開 2015-211093 プラズマ処理装置 2015年11月24日
特開 2015-211139 プラズマ処理装置およびドライエッチング方法 2015年11月24日
特開 2015-206642 欠陥観察方法及びその装置 2015年11月19日
特開 2015-206737 分析装置 2015年11月19日
特開 2015-207458 走査電子顕微鏡、及びその制御方法 2015年11月19日
特開 2015-207482 荷電粒子線装置および荷電粒子線装置の試料ステージ 2015年11月19日
特開 2015-207523 リチウムイオン二次電池の電極板の製造方法および製造装置 2015年11月19日
特開 2015-207688 ドライエッチング方法 2015年11月19日
特開 2015-203614 荷電粒子線装置および検査装置 2015年11月16日
特開 2015-203628 荷電粒子線装置及び座標補正方法 2015年11月16日
特開 2015-203658 検査装置 2015年11月16日
特開 2015-203659 検査装置 2015年11月16日

423 件中 31-45 件を表示

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2015-210140 2015-210200 2015-210903 2015-211093 2015-211139 2015-206642 2015-206737 2015-207458 2015-207482 2015-207523 2015-207688 2015-203614 2015-203628 2015-203658 2015-203659

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