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■ 2015年 出願公開件数ランキング 第107位 423件
(2014年:第59位 659件)
■ 2015年 特許取得件数ランキング 第95位 287件
(2014年:第54位 625件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2015-210140 | 計測システムおよび計測方法 | 2015年11月24日 | |
特開 2015-210200 | 検査装置 | 2015年11月24日 | |
特開 2015-210903 | 荷電粒子線装置 | 2015年11月24日 | |
特開 2015-211093 | プラズマ処理装置 | 2015年11月24日 | |
特開 2015-211139 | プラズマ処理装置およびドライエッチング方法 | 2015年11月24日 | |
特開 2015-206642 | 欠陥観察方法及びその装置 | 2015年11月19日 | |
特開 2015-206737 | 分析装置 | 2015年11月19日 | |
特開 2015-207458 | 走査電子顕微鏡、及びその制御方法 | 2015年11月19日 | |
特開 2015-207482 | 荷電粒子線装置および荷電粒子線装置の試料ステージ | 2015年11月19日 | |
特開 2015-207523 | リチウムイオン二次電池の電極板の製造方法および製造装置 | 2015年11月19日 | |
特開 2015-207688 | ドライエッチング方法 | 2015年11月19日 | |
特開 2015-203614 | 荷電粒子線装置および検査装置 | 2015年11月16日 | |
特開 2015-203628 | 荷電粒子線装置及び座標補正方法 | 2015年11月16日 | |
特開 2015-203658 | 検査装置 | 2015年11月16日 | |
特開 2015-203659 | 検査装置 | 2015年11月16日 |
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2015-210140 2015-210200 2015-210903 2015-211093 2015-211139 2015-206642 2015-206737 2015-207458 2015-207482 2015-207523 2015-207688 2015-203614 2015-203628 2015-203658 2015-203659
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