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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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　■　2015年特許取得件数ランキング　　　第95位　287件（2014年：第54位　625件）

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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 5712074	走査透過電子顕微鏡	2015年 5月 7日
特許 5712079	欠陥検査装置および欠陥検査方法	2015年 5月 7日
特許 5712130	パターン形状推定方法、及びパターン測定装置	2015年 5月 7日
特許 5714410	自動分析装置及び方法	2015年 5月 7日
特許 5707286	荷電粒子線装置、荷電粒子線装置の調整方法、および試料の検査若しくは試料の観察方法。	2015年 4月30日
特許 5707291	画像分類支援を行う荷電粒子線装置	2015年 4月30日
特許 5707299	半導体パターン計測方法、半導体パターン計測装置、半導体パターン計測プログラムおよび半導体パターン計測プログラムを記憶した記憶媒体	2015年 4月30日
特許 5707317	液体クロマトグラフ，液体クロマトグラフ用カラム、および液体クロマトグラフ用カラムのフィルタ	2015年 4月30日
特許 5707343	自動分析システム	2015年 4月30日
特許 5707357	スイッチ回路、質量分析装置及びスイッチ回路の制御方法	2015年 4月30日
特許 5707423	パターンマッチング装置、及びコンピュータープログラム	2015年 4月30日
特許 5709801	試料ホルダ、及び、観察用試料固定方法	2015年 4月30日
特許 5710194	真空処理装置	2015年 4月30日
特許 5703404	荷電粒子線装置及び荷電粒子線を用いた測長方法	2015年 4月22日
特許 5703407	情報処理装置、情報処理方法、情報システムおよびプログラム	2015年 4月22日

288 件中 166-180 件を表示

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5712074 5712079 5712130 5714410 5707286 5707291 5707299 5707317 5707343 5707357 5707423 5709801 5710194 5703404 5703407

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